[发明专利]采样电路

说明书

技术领域

本发明涉及AD变换器或者DA变换器的采样电路。

背景技术

当解析从AD变换器或者DA变换器输出的波形的情况下，如果不除去包含在波形中的噪声，则不能进行正确的解析。作为噪声的发生源，有从器件的电源和GND混入的噪声、LSI测试器和测量机器自身具有的噪声等。

为了除去噪声，有对模拟信号使用低通滤波器，对数字信号使用滤波器进行滤波处理的方法。但是在这些方法中，需要与AD变换器或者DA变换器相配合地选择适当的低通滤波器和滤波器。此外，当在1条信号线上对多个AD变换器或者DA变换器的输出进行转换并输出的情况下，也必须准备多个低通滤波器和滤波器，存在电路变得复杂的问题。

作为噪声除去的另一个方法，有对采样数据进行平均化的方法。该方法通过对采样数据进行平均化，包含在采样后的数据中的随机噪声被抵消，能够取得精度好的波形数据。此外，因为能够将上述的低通滤波器和滤波器等的噪声降低用的噪声除去电路减小或者设置为最小限度，所以具有能够简化解析中所需要的电路或者装置，提高解析装置全体的可靠性，并且能够使成本减小的优点。

用图13说明该以往的采用平均化的噪声除去方法。

在图13所示的以往的噪声除去方法中，让同一波形数据多次输出，进行采样。

例如，如图13(a)所示，将4个循环量的数字数据输入到采样电路，如图13(b)所示，以1/n循环为单位进行1次的采样。而后，针对同一相位采样点进行相加，作为1个循环量的数据存储在存储器中。即，将对数据a₁，a₁’，a₁”，a₁相加后得到的数据作为第1相位采样数据存储，将数据a₂，a₂’，a₂”，a₂相加后得到的数据作为第2相位采样数据存储，...将数据a_n，a_n’，a_n”，a_n相加后得到的数据作为第n相位采样数据存储。而后，在4个循环量的数字数据的采样全部完成后，对与各输入数据对应的采样数据的每个进行软平均化。由此，能够得到4个循环量的经过了平均化的数字数据。

此外作为采用其他的平均化的噪声除去的方法，还有多次输入同一波形数据，对在各波形数据中采样的定时相同的输出数据进行加法计算并存储在存储器中，通过在采样完成后使用计算器输出算术平均，在采样时进行在平均化处理中加法输出处理的部分，来减小计算时间的方法(例如，参照专利文献1)。

专利文献1：特开平1-156682号公报(第8页，图3)

发明内容

但是，在采用以往的平均化的除去噪声的方法中，如果采样数增加，则用于存储采样数据的数字存储器的需要容量也增大，结果，检查设备的价格变得昂贵，存在检查成本增大的课题。

此外，在将采样数据存储在存储器中时，因为需要用于发生采样点地址的地址发生器，所以存在不能充分抑制电路规模，不能实现低成本的检查设备的问题。

此外，因为需要在采样结束后进行平均化等的计算处理，所以由于在该计算处理中花费的时间的原因，检查时间拉长，其结果，存在检查成本增大的问题。

因而，本发明就是为了消除上述问题点而提出的，其目的在于提供一种能够降低检查成本的AD变换器或者DA变换器中的采样电路。

为了解决上述课题，本发明的技术方案1所述的采样电路其特征在于，具备：将从被测定器件输出的数字数据作为输入，以一定周期采样该数字数据的采样部件；对由上述采样部件所采样出的数字数据针对同一输入代码按照规定的相加个数进行加法计算，并依次输出该加法值的加法输出部件；将由上述加法输出部件进行的加法输出处理控制成和由上述采样部件进行的采样处理并行地进行的控制部件。

由此，因为可以并行地进行采用采样部件进行的采样处理、采用加法输出部件进行的加法输出处理，所以能够进一步减小检查时间，此外，因为直到在采样处理结束为止不需要安装用于存储采样数据的容量大的存储器，所以能够实现将电路规模抑制为所需要最小限度的低成本的检查设备。

此外，本发明的技术方案2的采样电路，其特征在于：在技术方案1所述的采样电路中，上述控制部件具有：对于由上述加法输出部件针对同一输入代码进行加法计算的上述数字数据的相加个数，针对各输入代码单独地进行设定的相加个数设定部件。