[发明专利]光学拾取和/或记录设备无效
申请号: | 200680024596.2 | 申请日: | 2006-06-28 |
公开(公告)号: | CN101218638A | 公开(公告)日: | 2008-07-09 |
发明(设计)人: | F·齐普;C·A·弗舒伦 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李亚非;谭祐祥 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 拾取 记录 设备 | ||
1.一种光学拾取和/或记录设备(1),该光学拾取和/或记录设备包括至少一个透镜元件(11),其适于将辐射束(5)聚焦在存储媒体(13)上;移动机构(31),其适于改变在所述透镜元件(11)的前表面(12)与所述存储媒体(13)的表面(14)之间的距离(18),并且适于改变所述透镜元件(11)的所述前表面(12)相对于所述存储媒体(14)的所述表面(14)的倾斜;间隙测量单元(25),其适于至少间接地测量在所述透镜元件(11)的所述前表面(12)与所述存储媒体(13)的所述表面(14)之间的所述距离(18),并且适于根据测得的所述距离来输出间隙信号;间隙控制单元(28),其适于至少根据所述间隙信号来控制所述移动机构(31);以及间隙信号校正单元(36),其适于根据所述透镜元件(11)的所述前表面(12)相对于所述辐射束(5)的传播方向(10)的倾斜来校正所述间隙信号的改变。
2.根据权利要求1所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述透镜元件(11)是固体浸没透镜。
3.根据权利要求1所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述间隙测量单元(25)适于测量由所述透镜元件(11)因受抑内全反射而反射的反射辐射束(5′)的至少一个分量(19)的振幅,其中所述分量(19)具有特定的偏振态。
4.根据权利要求3所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述间隙测量单元(25)测量所述反射辐射束的分量(19),其相对于具有线偏振态的所述辐射束(5)具有垂直偏振态。
5.根据权利要求3所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于在所述辐射束的光路中并且在所述反射辐射束的光路中设置至少一个四分之一波片(50),其中所述四分之一波片适于将所述辐射束的偏振从线偏振态变为圆偏振态,其中所述间隙测量单元(25)测量所述反射辐射束中偏振态与所述辐射束的所述线偏振态相平行的分量。
6.根据权利要求3至5中之一所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述间隙测量单元(25)适于根据所述反射辐射束(5′)的所述分量(19)的低频部分生成所述间隙信号。
7.根据权利要求1所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述间隙信号校正单元(36)适于用增益系数来放大所述间隙信号。
8.根据权利要求1所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述间隙信号校正单元(36)被配备成为所述间隙控制单元(28)修改至少一个预置值。
9.根据权利要求8所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述间隙信号校正单元(36)适于将所述间隙控制单元(28)的至少一个设定点与增益系数相乘。
10.根据权利要求9所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述间隙信号校正单元(36)适于将所述控制单元的增益值与所述增益系数的倒数值相乘。
11.根据权利要求7、9或10所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述增益系数至少取决于在所述透镜元件(11)的所述前表面(12)与所述辐射束的传播方向(10)之间的第一倾斜角。
12.根据权利要求11所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于所述增益系数还取决于在所述透镜元件的所述前表面与所述辐射束的所述光轴之间的第二倾斜角。
13.根据权利要求7所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于参考所述透镜元件(11)的所述前表面(12)相对于所述辐射束的传播方向之间的倾斜来确定所述增益系数。
14.根据权利要求13所述的光学拾取和/或记录设备(1),其特征在于在所述透镜元件的所述前表面与所述存储媒体(13)的所述表面之间的距离不小于辐射束(5)的波长的情况下,或者在存储媒体(13)不存在的情况下,对于预定的倾斜确定所述增益系数。
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