[发明专利]用于确保恒定张力纱线喂入纺织机械的双控制回路方法和装置有效
申请号: | 200680025369.1 | 申请日: | 2006-06-26 |
公开(公告)号: | CN101223094A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | 蒂齐亚诺·巴雷亚 | 申请(专利权)人: | B.T.S.R.国际股份公司 |
主分类号: | B65H51/30 | 分类号: | B65H51/30;B65H59/38;D04B15/48 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 赵培训 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 确保 恒定 张力 纱线 纺织机械 控制 回路 方法 装置 | ||
1.一种用于以恒定张力将纱线(F)喂入纺织机械(T)的方法,其纱线处理点远离纱线(F)从其退绕的线轴(2)或等效支架,所述纱线(F)的张力靠近线轴(2)被控制,这样这个参数在纱线(F)从线轴(2)退绕之后立即被监控和控制,其特征在于:在靠近纺织机械(T)的位置点或区域执行第二张力控制,纱线在该纺织机械(T)中处理,所述控制用于靠近线轴(2)调节纱线(F)的张力,以因此在所述处理点获得预定的期望纱线(F)张力。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:靠近线轴(2)将纱线张力控制为在开始使用纺织机械(T)时预定的第一张力值,所述值在所述机械(T)使用期间根据在此后者入口处测得的纱线张力和第二预定张力值之间的比较而被修正,以便在机械全部使用期间将进入机械入口处测得的所述张力保持恒定等于所述预定的第二值。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:给喂入纺织机械处理区域的纱线限定两个封闭的控制回路,第一回路靠近线轴(2)设置,第二回路基于在靠近所述处理区域或位置点的纱线上测得的张力数据,所述第二回路根据固定的张力值操作,而第一回路根据纱线由纺织机械处理前在所述处理区域或位置点中测得的张力进行操作。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于:所述第一张力值和所述第二张力值在纺织机械(T)开始使用时相等。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于:当在纺织机械(T)入口处的纱线张力值没有随第一张力值的预定次数修正和靠近线轴(2)执行的相应纱线张力预定次数修正而减小时,产生报警信号,而不管与第二预定值不对应。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于:如果进入所述机械的纱线(F)张力没有达到预定值,则暂停纺织机械(T)。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于:根据第一张力值的纱线干涉时间小于根据第二张力值和纺织机械(T)入口处测得张力值之间的比较进行的干涉时间。
8.一种用于以恒定张力将纱线(F)喂入纺织机械(T)的装置,所述纱线从线轴(2)或等效支架元件退绕,靠近所述线轴(2)设置第一张力测试和调节装置(4,5,6)以检测所述纱线(F)的张力,以便在纱线(F)从线轴(2)退绕之后立即监控和控制所述参数,其特征在于:提供第二张力测试装置(7),其靠近在其中处理纱线的纺织机械(T)区域或位置点设置并且连接到所述第一调节装置,所述第二调节装置(7)设置成在靠近纺织机械(T)的所述区域或位置点进行第二张力控制,所述控制用于调节靠近线轴(2)的纱线(F)张力,以因此获得进入机械(T)的纱线(F)的预定期望张力。
9.如权利要求8所述的装置,其特征在于:所述第一测量和调节装置包括张力传感器(5)和张力调节元件(4),第二测量装置包括第二张力传感器(7),所述第一和第二张力传感器(5,7)都被连接到控制单元(6)用于控制调节元件(4),这个后者控制在纺织机械使用期间根据两个数值之间进行的比较而进行,所述两个数值之间的比较在由第二张力传感器(7)对进入所述机械(T)的纱线测得的张力值和在机械(T)整个使用期间保持恒定的预定张力值之间进行。
10.如权利要求8所述的装置,其特征在于:第一张力传感器(5)、调节器元件(4)和控制单元限定了第一纱线张力控制回路(11),第二张力传感器(7)和所述单元(6)限定了第二纱线张力控制回路(15),所述第二回路(15)长于第一回路(11)。
11.如权利要求10所述的装置,其特征在于:所述第一控制回路具有比第二控制回路更短的干涉时间。
12.如权利要求11所述的装置,其特征在于:第一控制回路(11)的干涉时间在几毫秒和几毫微秒之间,第二控制回路(15)的干涉时间约为几毫秒。
13.如权利要求8所述的装置,其特征在于:纺织机械(T)上的纱线处理点或区域位于离开线轴(2)并离开第一张力控制和调节装置(4,T,6)大于一米的位置处。
14.如权利要求13所述的装置,其特征在于:纺织机械(T)上的纱线处理点或区域位于离开纱线从其退绕的线轴(2)大于10米的位置处。
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