[发明专利]用于配置循环冗余校验(CRC)产生电路以对数据流执行CRC的方法和设备无效
申请号: | 200680025591.1 | 申请日: | 2006-06-28 |
公开(公告)号: | CN101223700A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | 鲁沙恩·J·萨穆埃尔;拉维恩·罗伊瓦尼特 | 申请(专利权)人: | 密克罗奇普技术公司 |
主分类号: | H03M13/09 | 分类号: | H03M13/09 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王允方 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 配置 循环 冗余 校验 crc 产生 电路 数据流 执行 方法 设备 | ||
1.一种用于配置循环冗余校验(CRC)产生电路以对数据流执行CRC的方法,其包括:
将与CRC等式相关联的生成多项式存储在寄存器中,所述生成多项式包含能够变化的长度,使得所述长度具有小于或等于与CRC产生电路相关联的位的数目的任何值;
通过使用第一多路复用器产生反馈值来选择所述CRC产生电路的对应于所述生成多项式的所述长度的位位置;以及
对所述CRC产生电路进行编程,以基于存储在所述寄存器中的所述生成多项式和来自所述选定的位位置的所述反馈值来计算CRC校验和。
2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括基于所述多项式中的最大项来确定所述生成多项式的所述长度,所述最大项具有小于或等于与所述CRC产生电路相关联的位的所述数目的指数值。
3.根据权利要求1所述的方法,其中选择所述CRC产生电路中的所述位位置包括基于所述生成多项式的所述长度启用所述第一多路复用器的对应于所述选定的位位置的输入,使得由所述第一多路复用器将所述选定的位位置的输出选择作为所述反馈值。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述CRC产生电路包括多个多项式块,其按次序连接,使得每个多项式块表示所述生成多项式的一个多项式项,每个多项式块包括:
第二多路复用器,其包含第一多路复用器输入、第二多路复用器输入和多路复用器输出,所述第一多路复用器输出可操作以接收前一邻近的多项式块的输出;
触发器,其包含可操作以接收所述第二多路复用器的所述多路复用器输出的触发输入以及由随后邻近的多项式块的输入接收的触发输出;以及
反馈门,其包含可操作以接收所述前一邻近的多项式块的所述输出的第一门输入、可操作以接收所述反馈值的第二门输入以及由所述第二多路复用器输入接收的门输出。
5.根据权利要求4所述的方法,其中所述反馈门包括“异或”(XOR)门。
6.根据权利要求4所述的方法,其中用所述生成多项式编程所述CRC产生电路包括:如果所述第二多路复用器选择所述反馈门的所述输出,那么由所述多项式块中的一者产生所述多项式项。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述寄存器包括多个位,每个位可操作以确定多项式项是否存在于所述生成多项式中。
8.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
将所述生成多项式的二进制表示存储在第一寄存器中;以及
将所述生成多项式的所述长度的二进制表示存储在第二寄存器中。
9.一种用于配置循环冗余校验(CRC)产生电路以对数据流执行CRC的设备,其包括:
寄存器,其可操作以存储与CRC等式相关联的生成多项式,所述生成多项式包含能够变化的长度,使得所述长度具有小于或等于位的最大数目的任何值;
第一多路复用器,其耦合到所述寄存器且可操作以产生反馈值;以及
CRC产生电路,其耦合到所述寄存器和所述第一多路复用器,所述CRC产生电路可操作以基于所述反馈值和存储在所述寄存器中的所述生成多项式来计算CRC校验和,所述反馈值选自所述CRC产生电路的对应于所述生成多项式的所述长度的位位置。
10.根据权利要求9所述的设备,其中基于所述生成多项式中的最大项来确定所述生成多项式的所述长度,所述最大项具有小于或等于与所述CRC产生电路相关联的位的所述数目的指数值。
11.根据权利要求9所述的设备,其中所述第一多路复用器包括:
多个输入,其对应于所述CRC产生电路的每个位位置;
输出;以及
控制输入,其可操作以启用对应于所述选定的位位置的所述输入,使得在所述输出处引入所述反馈值。
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