[发明专利]病原体和颗粒的检测系统和方法

权利要求书

1.一种颗粒检测系统，其包含：

一外壳，其具有一样本槽区；

一光源，位在该样本槽区的一侧，用于传送一聚焦光束通过该样本，因而使部分的该光束被样本区内的各种大小颗粒以各种角度散射，而该光束未散射的部分则保持未被散射状态；

一光束阻挡装置，位在该样本槽区的相反侧，用于阻挡至少一部分该光束的未散射部分以及限制颗粒的测定范围；

一第一检测器，置于该光束阻挡装置后方的光路径中，用于检测一部分的前向散射光，以及产生一含有该光路径中落在一预设粒径范围内的前向散射颗粒数目信息的输出；

一第二检测器，置于该空气样本槽的光源侧，用于检测一部分的后向散射光，以及产生一含有该光路径中落在一预设粒径范围内的后向散射颗粒数目信息的输出；

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，上述反射自该介质内的后向散射光进一步被一第一波长选择装置所反射，以被该检测器所接收。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，更包括一警报器，用以当该预设粒径范围内的颗粒数比在约1至7微米粒径范围内所检测的预设粒径范围的预设正常值超过一预定量时，提供一警报信号。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，该光源发射紫外线。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，该光源包括一发光二极管。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，更包括一准直镜，其光学设置于该光源和该第一波长选择装置之间。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，更包括一处理器，该处理器连接至一脉波高度鉴别器的输出端，用以在一指定时间根据各脉波高度来处理粒径分布，而产生一气悬粒径分布的柱状图，以及在一输出装置上显示该柱状图。

8.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，更包括：

一第一透镜，置于被光束照射的位置；

一第一滤光器，置于被光束照射的位置；

一第二透镜，设置用以传送至少一部分的该前向散射光；

一第一光学组件，置于被至少一部分的该前向散射光所照射的位置，其中该第一光学组件仅传送该部分前向散射光的一特定波带；以及

一第二光学检测器，设置用以接收传送通过该第一光学组件的该部分前向散射光，因而该第二光学检测器测定出该介质内颗粒的尺寸。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，该第一透镜更包括一准直镜。

10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，更包括一检测透镜，其设置用以接收和传送被该第一波长选择装置所反射的辐射，以及一检测器，其设置用以接收来自该检测透镜的辐射，其中该检测器与该光源联系。

11.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，更包括一第三光学检测器，其中该第三光学组件是一第二波长选择装置，用以反射至少一部分的该前向散射光朝向该第三光学检测器。

12.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，该第一光学组件是一滤光器，设置用于仅传送该部分前向散射光的一特定波带，其中其它波带被该滤光器反射而沿着光学径路朝向该第一光学检测器。

13.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，该光源波长是介于约350至400纳米之间，以及该第一滤光器传送低于约400纳米的光。

14.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，更包括至少一光束阻挡透镜，其光学性地设置于该介质和该第二光学检测器之间，其中该光束阻挡透镜传送散射光以及反射或吸收非散射光。

15.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，更包括至少一滤光器，其光学性地设置于该介质和该第一光学检测器之间，其中该滤光器传送来自该介质的后向散射光以及反射来自该光源的电磁辐射。

16.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，更包括用于将来自该发光二极管的光线塑造成接近准直光线的光学透镜。

17.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，该光源包括用于塑形光线和/或将噪声从该光束中除去的光学透镜。

18.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，其中该样本槽包括一空气样本槽。