[发明专利]用于激光校准的系统和方法无效

专利信息
申请号: 200680027073.3 申请日: 2006-05-29
公开(公告)号: CN101228419A 公开(公告)日: 2008-07-23
发明(设计)人: 马里奥·安东尼奥·史蒂芬尼;扎巴斯·凯亚都-德-卡斯特罗-奈托;亚历山德罗·达米阿尼·莫特;朱里安诺·罗斯伊 申请(专利权)人: 奥普托全球控股有限公司
主分类号: G01J1/32 分类号: G01J1/32;A61B18/22
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 颜涛;郑霞
地址: 澳大利亚*** 国省代码: 澳大利亚;AU
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摘要:
搜索关键词: 用于 激光 校准 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种校准激光系统的方法,在该激光系统中激光单元可操作来发射激光束,该激光束沿光传递路径被引导到该光传递路径的远端处的输送点,该方法包括:

定义期望的激光功率;

初始化所述光传递路径的补偿因子;

根据所述期望的激光功率和所述补偿因子驱动所述激光单元发射激光束;

接收关于所述输送点处的激光功率的测量信号;

比较所述测量信号和所述期望的激光功率,以产生误差信号;和

根据所述误差信号调整所述补偿因子。

2.如权利要求1所述的方法,还包括:

识别所述光传递路径。

3.如权利要求1或2所述的方法,其中所述激光束在所述输送点处具有可选的光点尺寸,所述方法还包括识别所选的光点尺寸的步骤,且其中,所述定义步骤检索与所述所选的光点尺寸相关的期望的激光功率。

4.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述初始化步骤包括检索与所述光传递路径相关的预定衰减因子。

5.如权利要求4所述的方法,其中,光传递路径的所述预定衰减因子被乘以自动校准因子,且其中所述调节步骤根据所述误差信号调节所述自动校准因子。

6.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述方法被重复应用来为多个光传递路径校准所述激光系统。

7.如权利要求3所述的方法,其中,所述方法被重复应用来为多个激光光点尺寸校准所述激光系统。

8.一种激光单元的激光校准系统,该激光单元可操作来发射沿光传递路径被引导到该光传递路径远端处的输送点的激光束,该激光校准系统包括:

激光控制器,其可操作来根据期望的激光功率和与所述光传递路径有关的补偿因子驱动所述激光单元发射激光束;

检测器,其可操作来产生关于所述输送点处的激光功率的测量信号;和

激光校准器,其被调整成根据所述期望的激光功率与所述测量信号的比较生成误差信号,并根据该误差信号调整所述补偿因子。

9.如权利要求8所述的激光校准系统,其还包括:

用于识别所述光传递路径的路径识别器。

10.如权利要求9所述的激光校准系统,其中所述路径识别器识别光传递路径,该光传递路径选自:a)裂隙灯适配器、b)目镜内探测器、c)激光间接检眼镜和d)外科手术显微镜适配器。

11.如权利要求9或10所述的激光校准系统,其中所述路径识别器还识别为所述光传递路径选择的光点尺寸。

12.如权利要求8至11中任一项所述的激光校准系统,其还包括数据存储器,该数据存储器存储与一个或多个光传递路径相对应的一组预定衰减因子。

13.如权利要求12所述的激光校准系统,其中,所述激光校准器可操作来调整自动校准因子,该自动校准因子与所述光传递路径的预定衰减因子相乘。

14.如权利要求8至13中任一项所述的激光校准系统,其中,所述检测器包括光电二极管,该光电二极管产生与入射到该光电二极管上的激光功率有关的信号。

15.如权利要求14所述的激光校准系统,其中,所述检测器还包括光衰减器,以衰减入射到所述光电二极管上的激光功率。

16.如权利要求8至15中任一项所述的激光校准系统,其中,所述检测器包括定位装置,以将所述检测器定位在所述光传递路径的组件上,从而使得在所述输送点处发出的激光束入射到所述光电二极管上。

17.如权利要求16所述的激光校准系统,其中,所述定位装置包括从所述检测器体部延伸出的一个或多个引导支柱。

18.如权利要求16或17所述的激光校准系统,其中,所述光传递路径的组件是裂隙灯适配器。

19.如权利要求8至18中任一项所述的激光校准系统,其还包括用于显示关于所述激光系统的校准的信息的显示器。

20.如权利要求8至19中任一项所述的激光校准系统,其中,所述激光校准器包括处理所述误差信号的正比积分(PI)控制器。

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