[发明专利]信号发送/接收装置、测试装置、测试模块及半导体芯片有效
申请号: | 200680027160.9 | 申请日: | 2006-07-20 |
公开(公告)号: | CN101228718A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
发明(设计)人: | 冈安俊幸;渡边大辅 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试株式会社 |
主分类号: | H04B10/04 | 分类号: | H04B10/04;H04B10/00;H04B10/06;H04B10/14;H04B10/26;H04B10/28;H04L25/49 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号 发送 接收 装置 测试 模块 半导体 芯片 | ||
1.一种信号发送装置,是将在3种以上的多个逻辑值间跃迁的多值数据作为光信号传送的信号发送装置,其特征在于包括;
发光单元,其输出与所给与的电源电流对应的强度的激光、
电流源,其能够向所述发光元件提供与所述多值数据跃迁的所述多个值对应的多个电流值的所述电源电流、以及
调制部,其根据所述多值数据的跃迁,调制所述电流电源供给的所述电源电流的电流值。
2.根据权利要求1所述的信号发送装置,其特征在于,
所述多值数据光信号由多位数码数值的输入而生成,
所述电流源具有与所述数码数值的位数对应的个数的位电流源、
每个所述位电流源生成与所述数码值对应的位的位单元对应的电流,
所述调制部与所述位电流对应具有相应于所述数码值的位数的个数的电流控制开关、
每个所述电流控制开关,根据所述数码值对应的位的逻辑值,对是否将对应的所述位电流源生成的电流提供给所述发光元件进行转换。
3.根据权利要求2所述的信号发送装置,其特征在于还具有测量部,用于测量所述发光元件的电源电流-输出强度特性;以及
电流控制部,根据所述电源电流-输出强度特性,控制每个所述位电流源生成的所述电源电流的电流值。
4.根据权利要求3所述的信号发送装置,其特征在于,所述电流控制部为使所述激光的强度变化成与所述多值数据的逻辑值的跃迁量大致成正比,控制每个所述电流源生成的所述电源电流的电流值。
5.根据权利要求2所述的信号发送装置,其特征在于还具有时滞调整部,用于降低将所述多值数据光信号的各位的各数码值传送给所述调制部的各路径中的时滞。
6.一种信号接收装置,是将在3种以上的多个逻辑值间跃迁的多值数据作为光信号接收的信号接收装置,其特征在于包括;
受光单元,接受所述光信号,生成与所述光信号的强度对应的信号接收电流、
转换电路,将所述受光单元生成的所述受信电流转换成电压、
电压比较部,与所述多值数据跃迁的所述多个值对应设置,将所述转换电路输出的所述电压和与对应的所述多值数据的逻辑值相对应的比较电压进行比较、
等化器,与至少一个所述电压比较部对应设置,用于除去电压波形的抖动、以及
译码器电路,其根据每个所述电压比较部的比较结果,输出所述多值数据的逻辑值。
7.根据权利要求6所述的信号接收装置,其特征在于,所述等化器从所述多个电压比较部中,被给与的所述比较电压最大的一个开始依顺序与至少一个所述电压比较部对应设置。
8.一种测试装置,是测试装置测试被测试器件的测试装置,其特征在于具有:
载置所述被测试器件的测试头、
通过所述测试头与所述被测试器件进行信号收发,判断所述被测试器件好坏的主机部、设置在所述测试头及所述主机部分上,将在3种以上的多个逻辑值间跃迁的多值数据作为光信号传输的信号发送装置、
设置在所述测试头及所述主机部分上,接收所述光信号的信号接收装置;其中,所述信号接收装置具有:
输出与所给与的电源电流的强度对应的激光的发光单元、
能够将对应所述多值数据跃迁的所述多个值的多个电流值的所述电源电流提供给所述发光单元的电流源、以及
根据所述多值数据的跃迁,调制所述电流源供给的所述电源电流的电流值的调制部。
9.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于,所述信号接收装置,包括;
接受所述光信号,生成与所述光信号的强度对应的信号接收电流的受光单元、
将所述受光单元生成的所述受信电流转换成电压的转换电路、
与所述多值数据跃迁的所述多个值对应设置,将所述转换电路输出的所述电压和与对应的所述多值数据的逻辑值相对应的比较电压进行比较的多个电压比较部、
与至少一个所述电压比较部对应设置,用于除去电压波形的抖动的等化器、以及,根据每个所述电压比较部中的比较结果,判断所述多值数据的逻辑值的判断部。
10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于,所述信号发送装置还具有时滞调整部,用于降低在将所述多值数据光信号的各位的各数码值传送给所述调制部的各路径中的时滞。
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