[发明专利]锁相环电路和锁相环控制方法无效

专利信息
申请号: 200680027843.4 申请日: 2006-08-28
公开(公告)号: CN101233690A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 赵辉;朴贤洙 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H03L7/091 分类号: H03L7/091
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 郭鸿禧;常桂珍
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 锁相环 电路 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种锁相环电路,包括:

采样器,根据采样时钟输出对输入信号进行采样;

模式检测信号/相位误差产生单元,如果从采样器输出的采样的输入信号具有预定模式,则所述模式检测信号/相位误差产生单元产生用于指示所述预定模式的检测的模式检测信号,检测采样的输入信号和输入信号的零交叉点之间的相位误差,并输出所述相位误差;以及

采样时钟产生单元,基于模式检测信号和相位误差来产生采样时钟。

2.根据权利要求1所述的锁相环电路,其中,模式检测信号/相位误差产生单元包括:

零交叉点检测器,检测采样的输入信号的零交叉点;

模式确定单元,根据检测的零交叉点被重置,并且通过使用采样时钟计数值来确定采样的输入信号是否具有所述预定模式;

绝对差检测器,检测采样的输入信号之间的绝对差;

重复检验器,使用模式确定单元的输出信号以及锁存在模式确定单元中的计数值,以检验模式确定单元是否已经重复确定采样的输入信号具有所述预定模式;

相位误差产生器,如果重复检验器已经确定出模式确定单元已经重复确定采样的输入信号具有所述预定模式,则所述相位误差产生器输出由绝对差检测器检测的绝对差,作为采样的输入信号和所述零交叉点之间的相位误差,其中,输出的相位误差与所述零交叉点同步地被输出;以及

模式检测信号产生单元,如果重复检验器已经确定出模式确定单元已经重复确定采样的输入信号具有所述预定模式,则所述模式检测信号产生单元产生模式检测信号,其中,在一时间点产生所述模式检测信号,所述时间点从位于所述预定模式的中心的零交叉点被延迟第一预定数目的采样时钟周期,其中,第一预定数目是恒定的。

3.根据权利要求2所述的锁相环电路,其中,所述预定模式具有同步模式,所述同步模式均匀分布在输入信号能够被输入的整个范围。

4.根据权利要求2所述的锁相环电路,还包括:

频率误差检测器,检测第二预定数目和模式检测信号的周期期间的采样时钟计数值之间的差,作为输入信号的频率和采样时钟的频率之间的频率误差,其中,采样时钟产生单元还包括将频率误差和相位误差相加的加法器,并且其中,第二预定数目是在所述预定模式的周期期间产生的采样时钟周期的数目。

5.根据权利要求1所述的锁相环电路,其中,所述预定模式具有同步模式。

6.根据权利要求1所述的锁相环电路,还包括:

频率误差检测器,检测第二预定数目和模式检测信号的周期期间的采样时钟计数值之间的差,作为输入信号的频率和采样时钟的频率之间的频率误差,其中,采样时钟产生单元还包括将频率误差和相位误差相加的加法器,并且其中,第二预定数目是在所述预定模式的周期期间产生的采样时钟周期的数目。

7.一种锁相环电路,包括:

模拟/数字转换器,根据采样时钟输出RF信号输入;

同步模式检测信号/相位误差产生单元,如果从模拟/数字转换器输出的采样的RF信号具有同步模式,则所述同步模式检测信号/相位误差产生单元产生用于指示是否检测到同步模式的同步模式检测信号,并检测采样的RF信号和输入的RF信号的零交叉点之间的相位误差;

低通滤波器,与同步模式检测信号同步地检测相位误差的低频分量;

频率误差检测器,输出预定数目和同步模式检测信号的周期期间的采样时钟计数值之间的差,作为RF信号的频率和采样时钟的频率之间的频率误差;以及

采样时钟产生单元,通过使用相位误差的低频分量和频率误差的相加结果来产生采样时钟。

8.根据权利要求7所述的锁相环电路,其中,同步模式检测信号/相位误差产生单元包括:

零交叉点检测器,检测采样的RF信号的零交叉点。

9.根据权利要求8所述的锁相环电路,其中,同步模式检测信号/相位误差产生单元还包括:同步模式确定单元,根据由零交叉点检测器检测的零交叉点被重置,并通过使用采样时钟计数值来确定采样的RF信号是否具有同步模式。

10.根据权利要求9所述的锁相环电路,其中,同步模式检测信号/相位误差产生单元还包括:绝对差检测器,检测采样的RF信号之间的绝对差。

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