[发明专利]超分辨率信息记录介质、记录/再现设备以及记录/再现方法无效
申请号: | 200680028911.9 | 申请日: | 2006-08-08 |
公开(公告)号: | CN101238514A | 公开(公告)日: | 2008-08-06 |
发明(设计)人: | 金朱镐;黄仁吾;福泽成敏;富永淳二;菊川隆;小林龙弘;中野隆志;岛隆之 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社;独立行政法人产业技术总合研究所 |
主分类号: | G11B7/24 | 分类号: | G11B7/24 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩明星;邱玲 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分辨率 信息 记录 介质 再现 设备 以及 方法 | ||
1、一种具有超分辨率效应的信息记录介质,所述信息记录介质包括通过为从所述信息记录介质再现信号而照射的光束在所述信息记录介质的至少一部分中形成的液体泡。
2、如权利要求1所述的信息记录介质,其中,所述信息记录介质的所述部分包括被所述光束熔化的部分。
3、如权利要求1所述的信息记录介质,包括由具有低熔点或低蒸发点的材料形成的至少一层。
4、如权利要求3所述的信息记录介质,其中,所述具有低熔点或低蒸发点的材料包括Zn、Te、Bi和Sb中的至少一种。
5、如权利要求3所述的信息记录介质,其中,所述具有低熔点或低蒸发点的材料为AgInSbTe。
6、如权利要求1所述的信息记录介质,还包括由金属氧化物形成的层。
7、如权利要求6所述的信息记录介质,其中,所述金属氧化物为PtOx。
8、一种记录/再现设备,用于将数据记录到具有超分辨率效应的信息记录介质或从具有超分辨率效应的信息记录介质再现数据,所述设备包括:
拾取单元,将具有预定功率的光束照射到所述信息记录介质上,并检测从通过所述光束产生液体泡的信息记录介质的预定部分反射的光束;
控制单元,控制所述拾取单元将所述具有预定功率的光束照射到所述信息记录介质上,并处理由所述拾取单元检测到的光学信号。
9、如权利要求8所述的记录/再现设备,其中,所述控制单元还控制所述拾取器将具有足够高的功率的光束照到所述信息记录介质上以在信息记录介质中产生液体泡。
10、如权利要求8所述的记录/再现设备,其中,所述拾取单元应用所述信息记录介质的所述预定部分来检测光束,在所述预定部分中,由发射的光束产生的熔化的部分和液体泡共存。
11、如权利要求8所述的记录/再现设备,其中,所述拾取单元检测应用由具有低熔点或低蒸发点的材料形成并包括在所述信息记录介质中的层来检测光束。
12、如权利要求11所述的记录/再现设备,其中,所述具有低熔点或低蒸发点的材料包括Zn、Te、Bi和Sb中的至少一种。
13、如权利要求11所述的记录/再现设备,其中,所述拾取单元还通过应用由具有金属氧化物的材料形成并被包括在所述信息记录介质中的层来检测光束。
14、一种将数据记录到具有超分辨率效应的信息记录介质或从具有超分辨率效应的信息记录介质再现数据的记录/再现方法,所述方法的步骤包括:
将具有预定功率的光束照射到所述信息记录介质上;
检测从通过所述光束产生液体泡的所述信息记录介质的一部分反射的光束;
处理对应于检测到的光束的光学信号。
15、如权利要求14所述的记录/再现方法,其中,在所述光束的照射的步骤中,具有足够高功率的光束被照射到所述信息记录介质上以在所述信息记录介质中产生液体泡。
16、如权利要求14所述的记录/再现方法,其中,在所述光束的检测步骤中,应用所述信息记录介质的一部分来检测光束,在所述信息记录介质的这部分中,由发射的光束产生的熔化的部分和液体泡共存。
17、如权利要求14所述的记录/再现方法,其中,在所述光束的检测步骤中,应用由具有低熔点或低蒸发点的材料形成并被包括在所述信息记录介质中的层来检测光束。
18、如权利要求17所述的记录/再现方法,其中,所述具有低熔点或低蒸发点的材料包括Zn、Te、Bi和Sb中的至少一种。
19、如权利要求17所述的记录/再现方法,其中,在所述光束的检测步骤中,还通过应用由具有金属氧化物的材料形成并被包括在所述信息记录介质中的层来检测光束。
20、如权利要求1所述的信息记录介质,其中,所述液体泡包含蒸汽、气体和液体中的至少一种。
21、如权利要求1所述的信息记录介质,其中,所述AgInSbTe的比例为大约6∶4.4∶61∶28.6。
22、如权利要求20所述信息记录介质,其中,所述蒸汽为Te蒸汽,所述气体为Ar气体。
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