[发明专利]确定尺寸的系统和方法以及制造尺寸确定系统的方法无效

专利信息
申请号: 200680029233.8 申请日: 2006-08-07
公开(公告)号: CN101238462A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 尼古拉斯·巴尔若;尼古拉斯·贝鲁耶 申请(专利权)人: 普罗麦尔
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 代理人: 陆弋;宋志强
地址: 法国达*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 确定 尺寸 系统 方法 以及 制造
【权利要求书】:

1、一种用于建立分级型尺寸确定系统的方法,该方法尤其可用于为用以配带于人体至少一个部位(2)上的产品(1)确定一个或多个尺寸,其特征在于,该方法包括:

从所述部位(2)的一个或多个特征形态参数(PMi,j)中选择一个或多个主要形态参数(PMPi,j),并将所选择的主要形态参数(PMPi,j)存储在存储装置(3)中的步骤,所述特征形态参数(PMi,j)与是为所述部位(2)特征的两个形态标记(Mi,Mj)之间的距离相对应;

选择至少一个产品参数(PPi,j),并将所选择的产品参数(PPi,j)存储在存储装置(4)中的步骤,所述产品参数(PPi,j)与是为所述产品(1)几何特征的两个点(NPi,NPj)之间的距离相对应;

提供用于根据至少一个所述主要形态参数(PMPi,j)的值计算每个产品参数(PPi,j)的值的第一模块(5)的第一步骤,所述第一步骤包括:

i.用于确定每个产品参数(PPi,j)与至少一个所述主要形态参数(PMPi,j)之间的第一算术关系的第一统计计算步骤,

ii.用于将该所述第一算术关系存储在一存储装置中的第一步骤,

提供用于根据至少一个所述产品参数(PPi,j)计算所述产品(1)的每个几何特征点(NPi)的坐标值的第二模块(6)的第二步骤,所述坐标由以所述产品(1)的所述几何特征点(NPi)中的一特定点(NPref)为中心的参照系统来表示,所述第二步骤包括:

i.用于确定所述产品(1)的每个几何特征点(NPi)的所述坐标与至少一个所述产品参数(PPi,j)之间的第二算术关系的第二统计计算步骤,

ii.用于将所述第二算术关系存储在一存储装置中的第二步骤,

用于确定一个或多个尺寸的第三统计计算步骤,所述尺寸中的每个尺寸均利用所述一个或多个主要形态参数(PMPi,j)的相应特定变化区间或者利用所述一个或多个产品参数(PPi,j)的相应特定变化区间来确定,并被存储在存储装置(7)中。

2、根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对于每个产品参数(PPi,j),所述第一统计计算步骤均包括用于确定算术系数c0i,j,...,cni,j以使PPi,j=c0i,j+c1i,j×PMPi1,j1+c2i,j×PMPi2,j2+...+cni,j×PMPin,jn的统计计算步骤;并且

所述第一存储步骤均包括将所述系数存储在所述存储装置中的步骤。

3、根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,

所述第一统计计算步骤包括:

用于确定每个形态参数(PMi,j)和至少一个所述主要形态参数(PMPi,j)之间的第一中间算术关系的第一中间统计计算步骤;

用于确定每个产品参数(PPi,j)和至少一个所述形态参数(PMi,j)之间的第二中间算术关系的第二中间统计计算步骤;

并且所述第一存储步骤包括:

用于存储所述第一中间算术关系的第一中间步骤,

用于存储所述第二中间算术关系的第二中间步骤。

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