[发明专利]测试包含秘密信息的集成电路的方法

权利要求书

1.一种测试集成电路(10)的方法，所述集成电路包括功能电路(12a-c)，耦合至功能电路(12a-c)的测试访问电路(14，16)，和耦合至测试访问电路(14，16)的多个熔丝元件(18)，所述熔丝元件(18)按如下电路结构连接：该电路结构使得仅仅当所述多个熔丝元件中的第一熔丝元件(18)处于熔断状态并且所述多个熔丝元件中的第二熔丝元件(18)处于未熔断状态时，才可经由测试访问电路(14，16)稳定地访问功能电路(12a-c)，该方法包括：

获得所有第一和第二熔丝元件(18)处于未熔断状态的集成电路(10)；

选择性地熔断所有第一熔丝元件(18)并保留所有第二熔丝元件(18)未熔断；然后，

使用测试访问电路(14，16)执行测试；以及然后，

熔断至少部分第二熔丝元件(18)。

2.如权利要求1所述的方法，其中集成电路(10)包括耦合至测试访问电路(14，16)的另一功能电路(12a-c)，熔丝元件(18)按如下电路结构连接：该电路结构使得当第一熔丝元件(18)处于熔断状态时，只要在第二熔丝元件(18)中仅仅一个或更多个第二熔丝元件(18)的一个预定子集的熔丝元件处于熔断状态时，就可经由测试访问电路(14，16)稳定地访问所述另一功能电路(12a-c)，该方法包括以下步骤：

在所述执行步骤后，熔断该子集的第二熔丝元件(18)；然后

使用测试访问电路(14，16)执行另一测试；以及然后，

熔断不属于所述子集的至少部分第二熔丝元件(18)。

3.一种集成电路(10)，包括功能电路(12a-c)，耦合至功能电路(12a-c)的测试访问电路(14，16)，和耦合至测试访问电路(14，16)的多个熔丝元件(18)，所述熔丝元件(18)按如下电路结构连接：该电路结构使得仅仅当所述多个熔丝元件中的第一熔丝元件(18)处于熔断状态并且所述多个熔丝元件中的第二熔丝元件(18)处于未熔断状态时，才可经由测试访问电路(14，16)稳定地访问功能电路(12a-c)。

4.如权利要求3所述的集成电路，包括耦合至测试访问电路(14，16)的另一功能电路(12a-c)，所述多个熔丝元件(18)按照如下电路结构连接：该电路结构使得当第一熔丝元件(18)处于熔断状态时，只要在第二熔丝元件(18)中仅仅一个或更多个第二熔丝元件(18)的预定子集的熔丝元件(18)处于熔断状态时，就可经由测试访问电路(14，16)稳定地访问所述另一功能电路(12a-c)。

5.如权利要求3所述的集成电路，包括扫描链(14)和沿扫描链在彼此不同的位置处耦合至扫描链(14)的多个数据修改电路(29)，第一和第二熔丝元件(18)耦合至相应的数据修改电路(29)。

6.如权利要求3所述的集成电路，包括逻辑电路(24)，其输入端耦合至相应的第一和第二熔丝元件(18)并且其输出端耦合至测试访问电路(14，16)，以启用稳定的访问，逻辑电路(24)被设置成仅仅当所述多个熔丝元件中的第一熔丝元件(18)处于熔断状态并且所述多个熔丝元件中的第二熔丝元件(18)处于未熔断状态时，才产生第一输出信号。

7.如权利要求3所述的集成电路，包括外部端子(32，34)，其中，测试访问电路(14，16)包括耦合至功能电路(12a-c)并且在外部端子(32，34)之间的扫描链(14)，扫描链(14)包括扫描单元(40b，c，d)，该集成电路包括耦合至扫描链(14)和熔丝元件(18)的扫描链修改电路(42，43，46，47)，所述扫描链修改电路(42，43，46，47)按如下方式设置：有条件地当并非所有第一熔丝元件(18)处于熔断状态或者并非所有第一熔丝元件(18)处于未熔断状态时，响应于引起测试数据移位通过扫描链(14)的信号，引起测试数据的各个瞬时连续部分在沿外部端子(32，34)之间的方向移位期间在其通过扫描链(14)的路程上穿过扫描链(40b，c，d)的次数之间的差异。