[发明专利]使用红外线光热辐射测量（PTR）和调制激光发光（LUM）进行牙齿缺陷诊断的方法和装置

权利要求书

1.一种使用光热辐射测量和调制发光来对病人的牙齿组织进行检查的装置，包括：

至少一个激光光源，其用于用有效的波长来照射牙齿组织的一部分表面，其中，调制光热辐射测量信号和调制发光信号响应性地从牙齿表面的所述部分发射出来；

检测装置，用于检测发射出的所述调制光热信号和所述调制发光信号；

手持探头以及具有连接到所述手持探头的末端的柔性光纤束，所述光纤束包括第一光纤，其具有与所述光源进行光通信的近端，以及在所述手持探头终结的末端，通过操纵所述手持探头的医生的操作，该第一光纤将来自所述光源的光传送到病人的牙齿组织；所述光纤束包括多个具有在所述手持探头终结的末端以及光耦合到所述检测装置的近端的多模光纤，第一预选数目的所述多模光纤是用于将所述调制发光信号传送到所述检测装置的近红外线传输光纤，第二预选数目的所述多模光纤是用于传送所述光热辐射测量信号的中红外线传输光纤；

解调装置，用于将所述发射的调制光热信号解调成光热相位分量和幅度分量，以及将所述调制发光信号解调成发光相位信号和幅度信号；以及

处理装置，用于将所述光热相位信号和幅度信号与参考样本的光热相位信号和幅度信号进行比较，以及将所述发光相位信号和幅度信号与参考样本的发光相位信号和幅度信号进行比较，以便若所述牙齿组织的所述部分与所述参考样本之间存在差别，则获得这些差别，并将所述差别与所述牙齿组织中的缺陷进行关联。

2.如权利要求1中所述的装置，其中所述检测装置包括在近红外线光谱区域敏感的第一红外探测器，其用于检测所述调制发光(LUM)信号；还包括在中红外线光谱区域敏感的第二红外探测器，其用于检测所述调制光热辐射测量信号。

3.如权利要求2中所述的装置，其中所述第二红外探测器是碲镉汞(HgCdTe)(MCT)检测器、碲锌镉汞(MCZT)检测器、硒化铅(PbSe)检测器、砷化铟(InAs)检测器、锑化铟(InSb)检测器以及砷镓铟(InGaAs)检测器中的一种。

4.如权利要求2中所述的装置，其中所述第一光纤在所述中红外线光谱区域敏感，用于收集所述调制光热辐射测量信号，并将其传送到所述第一红外探测器。

5.如权利要求4中所述的装置，其中所述第一红外探测器是硅(Si)光电二极管、锗(Ge)光电二极管、砷镓铟(InGaAs)光电二极管以及硫化铅(PbS)光电二极管中的一种。

6.如权利要求1、2、3、4或5中所述的装置，其中所述多模光纤是卤化银多模光纤。

7.如权利要求1、2、3、4或5中所述的装置，其中所述至少一个激光光源是两个半导体激光器，所述两个半导体激光器中的第一个激光器发射波长为670nm的光，第二个激光器发射波长为830nm的光。

8.如权利要求7中所述的装置，其中，从所述两个半导体激光器发射的激光被光耦合器耦合进所述第一光纤。

9.如权利要求2中所述的装置，包括被放置在所述第一检测器前面的滤光器，其用于阻挡被牙齿组织反射或散射的激光。

10.如权利要求2中所述的装置，其中所述处理装置被配置成存储从所述检测器获得的作为单个数据点的差别。

11.如权利要求1到10的任何一项所述的装置，包括用于调整入射到牙齿组织上的所述光束尺寸的光束扩展和聚焦光学器件，以便于调整被成像的牙齿组织的区域尺寸。

12.如权利要求1到11的任何一项所述的装置，其中所述解调装置是锁相放大器。