[发明专利]使用纳米粒子鉴别和识别对象

说明书

(对相关申请的交叉引用)

本申请要求在2005年9月12日提交的美国临时申请No.60/716656的优先权，通过引用该申请的公开的全部内容将其并入于此。

技术领域

本发明一般涉及纳米粒子。更具体而言，本发明涉及使用纳米粒子鉴别和识别对象。

背景技术

要被鉴别或识别的对象有时设置有特定的标记，该标记可以是对象本身的一部分或者可以与对象耦合。例如，一般使用的标记是条形码，条形码包含被直接印刷到对象上或印刷到与对象耦合的标签上的要素的线性阵列。这些要素通常包含条和间隔，其中不同宽度的条代表二进制1的串，并且不同宽度的间隔代表二进制0的串。虽然条形码对于跟踪对象的位置或身份是有用的，但这些标记很容易被复制，因此就防伪而言具有有限的效果。

针对这种背景，需要开发本文所说明的装置、系统和方法。

发明内容

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，包含用于执行以下处理的可执行代码：(1)基于标记的鉴别图像得出索引；(2)基于索引选择标记的基准图像；(3)将鉴别图像与基准图像相比较以确定鉴别图像是否与基准图像匹配；和(4)基于鉴别图像是否与基准图像匹配，产生关于真实性的指示。

还设想了本发明的其它方面和实施例。以上的发明概述和以下的详细说明并不意味着将本发明限制于任何特定的实施例，而仅是要说明本发明的一些实施例。

附图说明

为了更好地理解本发明的一些实施例的本质和目的，应结合附图参照以下的详细说明。

图1示出可根据本发明的实施例实现的系统。

图2示出针对纳米粒子的三个不同的随机阵列获得的三个不同的图像。

具体实施方式

定义

以下的定义适用于关于本发明的一些实施例而说明的要素中的一些要素。这些定义同样可在这里被详细描述。

本文使用的术语“组”是指一个或更多个元素的集合。一个组中的元素也可被称为该组的成员。一个组中的元素可以是相同的或不同的。在一些情况下，一个组中的元素会共有一个或更多个共同的特性。

本文使用的术语“任选的”和“任选地”意味着随后说明的事件或情况可以出现或者可以不出现，并且该说明包含事件或状况出现的情况以及不出现的情况。

本文使用的术语“紫外线区域”是指从约5纳米(“nm”)到约400nm的波长的范围。

本文使用的术语“可见光区域”是指从约400nm到约700nm的波长的范围。

本文使用的术语“红外线区域”是指从约700nm到约2毫米(“mm”)的波长的范围。

本文使用的术语“纳米范围”是指从约0.1nm到约10微米(“μm”)的尺寸的范围，诸如从约0.1nm到约500nm、从约0.1nm到约200nm、从约0.1nm到约100nm、从约50nm到约100nm、从约0.1nm到约50nm、从约0.1nm到约20nm、或者从约0.1nm到约10nm。

本文使用的术语“反射”和“反射的”是指光的弯曲或偏转。光的弯曲或偏转可基本上沿单一方向，诸如镜面反射的情况；或者可以沿多个方向，诸如漫反射或散射的情况。一般地，入射到材料上的光和从材料反射的光可具有相同或不同的波长。

本文使用的术语“发光”和“发光的”是指响应于能量激发的光发射。发光可基于从原子或分子的电子激发态的弛豫(relaxation)而发生，并可包含例如化学发光、电致发光、光致发光和它们的组合。例如，在电致发光中，可基于电激发而产生电子激发态。在可包含荧光和磷光的光致发光中，可基于诸如光的吸收的光激发而产生电子激发态。一般地，入射到材料上的光和由材料发射的光可具有相同或不同的波长。发光材料的示例包含本征半导体(例如，间接带隙半导体)、本征绝缘体(例如，宽带隙半导体)、本征荧光材料(例如，过渡金属和诸如镧系元素的稀土元素)以及掺杂有适当的发光材料的材料。

本文使用的术语“光致发光量子效率”是指由材料发射的光子的数量相对于由材料吸收的光子的数量的比率。

本文使用的术语“缺陷”是指晶体堆垛错误、陷阱(trap)、空位、介入(insertion)或杂质。

本文使用的术语“单层”是指材料的单一完整涂层，没有在该完整涂层上添加附加材料。