[发明专利]气体分析方法无效
| 申请号： | 200680033577.6 | 申请日： | 2006-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN101263385A | 公开（公告）日： | 2008-09-10 |
| 发明（设计）人： | R·贾殷;Y·陈 | 申请（专利权）人： | 琳德股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 郭辉 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 气体 分析 方法 | ||
1.一种在气体纯化过程中测量杂质浓度的方法，该方法包括：
a)将含杂质的气流通入气体吸附装置中，在室温或高于室温的温度下保持一段时间，以吸附气流中的杂质；
b)停止气流的流动；
c)解吸附，使用检测器分析杂质。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述气体是二氧化碳。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述杂质选自H2S、COS、二甲硫、苯、醛、短碳链醇、以及烃。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述气体吸附装置包括在气相色谱中的填充床。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述气体通过气体分离柱解吸附。
6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述气相柱色谱含有测量有机化合物杂质的分析装置，所述有机化合物杂质选自以下：苯、醛、短碳链醇、以及烃。
7.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述气相色谱与测量硫化合物的分析装置连通。
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测器选自：用于检测烃杂质的火焰离子化检测器(FID)和光离子化检测器(PID)；用于检测含硫化合物的火焰光度检测器(FPD)、硫化学发光检测器(SCD)和脉冲火焰光度检测器(PFPD)。
9.一种在二氧化碳生产和纯化过程中测量杂质浓度的分析方法，该方法包括：
a)将含杂质的气流通入气体吸附装置中，在室温或高于室温的温度下保持一段时间，以吸附气流中的杂质；
b)停止气流的流动；
c)解吸附，使用检测器分析杂质。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述气体是二氧化碳。
11.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述杂质选自H2S、COS、二甲硫、苯、醛、短碳链醇、以及烃。
12.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述气体吸附装置包括在气相色谱中的填充柱。
13.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述气体通过气体分离柱解吸附。
14.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述气相柱色谱包含测量有机化合物杂质的分析装置，所述有机化合物杂质选自以下：苯、醛、短碳链醇、以及烃。
15.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述气相色谱与测量硫化合物的分析装置连通。
16.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述检测器选自：用于检测烃杂质的火焰离子化检测器(FID)和光离子化检测器(PID)；用于检测含硫化合物的火焰光度检测器(FPD)、硫化学发光检测器(SCD)和脉冲火焰光度检测器(PFPD)。
17.一种在二氧化碳气体纯化过程中测量杂质浓度的方法，该方法包括：
a)将含杂质的二氧化碳气流通入在色谱装置内的填充柱中，在室温或高于室温的温度下保持一段时间，以吸附该气流中的杂质；
b)停止气流的流动，升高柱色谱装置的温度以解吸附杂质；
c)使用检测器分析所得的气流。
18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，所述杂质选自H2S、COS、二甲硫、苯、醛、短碳链醇、以及烃。
19.如权利要求17所述的方法，其特征在于，所述气相色谱将含有杂质的二氧化碳气流通入分析装置，以测量有机化合物杂质，所述有机化合物杂质选自以下：苯、醛、短碳链醇、以及烃。
20.如权利要求17所述的方法，其特征在于，所述气相色谱包含测量硫化合物的分析装置。
21.如权利要求17所述的方法，其特征在于，所述检测器选自：用于检测烃杂质的火焰离子化检测器(FID)和光离子化检测器(PID)；用于检测含硫化合物的火焰光度检测器(FPD)、硫化学发光检测器(SCD)和脉冲火焰光度检测器(PFPD)。
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