[发明专利]广源控制设备、照明设备和液晶显示设备有效
申请号: | 200680034094.8 | 申请日: | 2006-02-03 |
公开(公告)号: | CN101268720A | 公开(公告)日: | 2008-09-17 |
发明(设计)人: | 小桥川诚司;藤根俊之 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H05B37/02 | 分类号: | H05B37/02;F21V23/04;G02F1/133;G02F1/13357;F21Y103/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 沈昭坤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制 设备 照明设备 液晶显示 | ||
1.一种光源控制设备,它包括光检测设备,所述光检测设备检测用于发射不 同颜色的光的多个光源的发射亮度,所述光源控制设备基于所述光检测设备的检测 结果来控制所述多个光源中的至少一个的发射亮度,所述光源控制设备的特征在 于:
向反射构件以及底盘提供通孔,所述反射构件在预定的方向上反射从所述光 源发出的光,所述反射构件被提供给所述底盘,
在与所述底盘的光源一侧相反的另一侧设置所述光检测设备,以及
光传播构件被插入所述通孔,来自所述光源的光线可以穿过所述光传播构件 而传播。
2.如权利要求1所述的光源控制设备,其特征在于,所述光传播构件包括突 出部分,并且所述突出部分被安装到所述通孔中。
3.如权利要求1或2所述的光源控制设备,其特征在于,所述光传播构件具 有高于所述光源的高度。
4.如权利要求1或2所述的光源控制设备,其特征在于,所述光检测设备检 测在穿过所述通孔之后被光分离装置分离开的光线。
5.如权利要求1或2所述的光源控制设备,还包括位于与所述底盘的光源一 侧相反的另一侧且用于容纳所述光检测设备的容纳空间,并且其特征在于,防止从 所述光源中发出的光线穿过所述容纳空间。
6.如权利要求1或2所述的光源控制设备,其特征在于,所述反射构件和所 述底盘包括多个上述的通孔。
7.如权利要求6所述的光源控制设备,还包括开启和关闭装置,所述开启和 关闭装置能够单独地控制是否将光线输入到所述光检测设备,从而让各个光束穿过 所述多个通孔。
8.如权利要求6所述的光源控制设备,还包括透射波长选择装置,所述透射 波长选择装置用于选择进入所述光检测设备的透射光波长,从而让各个光束穿过所 述多个通孔。
9.如权利要求7或8所述的光源控制设备,还包括位于与所述底盘的光源一 侧相反的另一侧的背面光引导体,所述背面光引导体将穿过所述多个通孔的光线引 导至所述光检测设备。
10.如权利要求7或8所述的光源控制设备,还包括位于与所述底盘的光源一 侧相反的另一侧且用于容纳所述光检测设备的容纳空间,所述容纳空间的尺寸覆盖 了所述多个通孔的排列区域,其特征在于,
防止从所述光源中发出的光线穿过所述容纳空间。
11.如权利要求6所述的光源控制设备,还包括多个上述的光检测设备。
12.如权利要求11所述的光源控制设备,其特征在于,穿过所述多个通孔的 光线被所述多个光检测设备检测。
13.如权利要求11或12所述的光源控制设备,还包括位于与所述底盘的光源 一侧相反的另一侧且用于分别容纳所述多个光检测设备的多个容纳空间,并且其特 征在于,防止从所述光源中发出的光线穿过每一个所述容纳空间。
14.如权利要求1、2、7、8、11、12中任一项所述的光源控制设备,其特征 在于:
所述光源包括LED和荧光灯,而所述光传播构件包括底部基板和多个支持部 分,以及
通过所述多个支持部分,按预定的间隔来维持所述荧光灯的位置关系。
15.一种照明设备,它包括如权利要求1到14中任一项所述的光源控制设备。
16.一种液晶显示设备,它包括如权利要求15所述的照明设备以及液晶面板。
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