[发明专利]测量超导导线的临界电流值的方法无效

专利信息
申请号: 200680034183.2 申请日: 2006-09-22
公开(公告)号: CN101268358A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 上野荣作;加藤武志;藤上纯 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00;G01R19/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 穆德骏;黄启行
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测量 超导 导线 临界 电流 方法
【权利要求书】:

1.一种测量超导导线的临界电流值的方法,包括通过给超导导线(1)馈送电流且改变所述电流的值来测量第一到第m个(m表示至少为2的整数)电流值(I1、I2、…、Im)和对应于所述第一到第m个电流值的各电流值的第一到第m个电压值(V1、V2、…、Vm)的步骤,其中

通过在恒定的时间内将从恒流源(6)馈送给所述超导导线的电流保持在设定为第一设定值的状态,随后测量流过所述超导导线的电流和在所述超导导线中产生的电压,来测量所述第一电流值和所述第一电压值,以及

通过在恒定的时间内将从所述恒流源馈送给所述超导导线的电流保持在设定为高于第(k-1)个设定值的第k个设定值的状态,随后测量流过所述超导导线的电流和在所述超导导线中产生的电压,从而测量所述第k个(k表示满足2≤k≤m的整数)电流值和所述第k个电压值。

2.根据权利要求1所述的测量超导导线的临界电流值的方法,还包括以下步骤:以所述第一到第m个电流值(I1、I2、…、Im)和所述第一到第m个电压值(V1、V2、…、Vm)为基础,计算示出在流过所述超导导线(1)的电流和在所述超导导线中产生的电压之间的关系的直线;并用所述直线计算所述超导导线的所述临界电流值。

3.根据权利要求2所述的测量超导导线的临界电流值的方法,在所述的计算所述直线的步骤中,用最小二乘法来计算所述直线。

4.一种测量超导导线的临界电流值的方法,包括步骤:

将超导导线(1)的总长度划分成从第一部分到第n部分的n个长度;以及

通过将电流馈送给从所述第一部分到所述第n部分的各个部分以及改变所述电流的值,来测量第一到第m个(m表示至少为2的整数)电流值(I1、I2、…、Im)和对应于所述第一到第m个电流值的各电流值的第一到第m个电压值(V1,1到V1,m、V2,1到V2,m、…、Vn,1到Vn,m;其中Vk,j表示在第k部分中对应于第i个电流值的电压值(k表示1到n的整数,i表示1到m的整数)),其中

通过在恒定的时间内将从恒流源(6)馈送给所述超导导线的电流保持在设定为第一设定值的状态,随后测量流过所述超导导线的电流和在所述超导导线中产生的电压,从而测量在所述第一部分到所述第n部分的每一个中的所述第一电流值(I1)和所述第一电压值(V1,1、V2,1、…、Vn,1),以及

通过在恒定的时间内将从所述恒流源馈送给所述超导导线的电流保持在设定为高于第(j-1)个设定值的第j个设定值的状态,随后测量流过所述超导导线的电流和在所述超导导线中产生的电压,从而测量在所述第一部分到所述第n部分的每一个中的所述第j个(j表示满足2≤j≤m的整数)电流值(Ij)和所述第j个电压值(V1,j、V2,j、…、Vn,j)。

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