[发明专利]监控产品所接触温度的器件和方法无效
申请号: | 200680034751.9 | 申请日: | 2006-09-19 |
公开(公告)号: | CN101268347A | 公开(公告)日: | 2008-09-17 |
发明(设计)人: | M·卡瓦利尼;F·比斯卡里尼;F·C·马塔科塔;P·A·斯托利亚 | 申请(专利权)人: | 斯可利巴纳米技术有限公司 |
主分类号: | G01K11/06 | 分类号: | G01K11/06 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陈哲锋 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 监控 产品 接触 温度 器件 方法 | ||
1.一种用于监控产品所接触的温度的器件,其特征在于,它包括:至少一个空间结构化元件(1),该元件由指示预设温度水平(Tes)和预设接触时间间隔(Tis)的材料构成,所述空间结构化元件(1)适于被应用于要监控的产品,所述指示材料(1)可选自一旦其处于可吸收预设热量的状态即可检测地改变它们的形态和/或结构和/或化学和/或物理状态的材料。
2.如权利要求1所述的器件,其特征在于,适于确定指示材料的状态变化的预设热量通过由所述指示材料对于籍达到预设阈值温度(Tes)和/或籍所述指示材料(1)接触等于或者高于预设阈值温度(Tes)的温度达长于预设时间间隔(Tis)的一个时间间隔(Δt)而生成的热流的吸收来确定。
3.如以上权利要求中任一项或多项所述的器件,其特征在于,所述结构化元件(1)包括由所述指示材料制成的膜,其至少一个表面或者界面(2)可用于接触具有结构化构造(3)的周围介质,所述表面(2)可任选地用保护涂层遮盖。
4.如以上权利要求中任一项或多项所述的器件,其特征在于,所述结构化元件(1)包括一薄的标签,其可被应用于要监控的产品、且由所述指示材料制成。
5.如以上权利要求中任一项或多项所述的器件,其特征在于,所述结构化元件(1)由一个包括基层(4)的标签组成,基层(4)有一个表面(2)可用于接触由所述指示材料制成的结构化构造(3)被应用于其上的周围介质。
6.如以上权利要求中任一项或多项所述的器件,其特征在于,所述指示材料(1)包括一种或多种纯净物或混合物状态的物质,所述物质可选自无机物、有机物、聚合物、生物物质或者混合物质。
7.如以上权利要求中任一项或多项所述的器件,其特征在于,所述结构化元件(1)是模制元件。
8.如权利要求3至7中任一项所述的器件,其特征在于,所述结构化构造(3)形成一个由多个突起产生的高粗糙度接触表面(2),其中的突起是由相应的空隙(7)相互隔开的,所述突起(5)和所述空隙(7)沿垂直于所述粗糙表面所取的横截面的轮廓在形状上像一个有相当尖锐边缘(6)的敞口多边形。
9.如权利要求8所述的器件,其特征在于,所述突起(5)由适于在接触等于或高于所述阈值温度(Tes)时进行形变和/或状态改变的指示材料制成。
10.如权利要求9所述的器件,其特征在于,所述突起(5)的空间高度(h)和宽度(d)尺寸选择成当过去的接触时间间隔(Δt)等于或大于预设接触时间间隔(Tis)时使所述突起平坦化直到其在空隙(7)中填满材料,所述边缘(6)形成圆化部分(8),其减少所述接触表面的可检测粗糙度。
11.如权利要求10所述的器件,其特征在于,所述圆化部分(8)在所述预设时间间隔(Tis)过去时达到它们的最大圆化半径(r)。
12.如权利要求8至11中任一项所述的器件,其特征在于,所述指示材料的熔化温度或玻璃化温度选为等于预设阈值温度(Tes)。
13.如权利要求3至7中任一项所述的器件,其特征在于,所述结构化构造(3)形成一个低粗糙度接触表面(10),其由一定体积(11)的所述指示材料构成。
14.如权利要求13所述的器件,其特征在于,形成所述体积(11)的所述指示材料适于在接触等于或者大于所述阈值温度(Tes)超过预设时间间隔(Tis)的时间间隔(Δt)之时发生形变和/或状态改变。
15.如权利要求14所述的器件,其特征在于,所述指示材料选择成适合由于所述形变而形成突起(5)、分离突起(5)、或者由凹槽(7)分离的突起(5),所述接触表面(2)在所述预设时间间隔(Δt)过去时其可检测粗糙度相对于起始状态有所提高。
16.如权利要求13至15中的任一项所述的器件,其特征在于,所述指示材料选择成使所述形变由其晶化作用确定。
17.如权利要求13至15中的任一项所述的器件,其特征在于,所述指示材料选择成使所述形变由反湿润作用确定。
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