[发明专利]图像数据处理的方法和系统

权利要求书

1. 一种计算机实现方法，包括：

将具有与之关联的荧光材料的颗粒的图像分成分区阵列；

确定对分区内多个像素测量的光学参数的统计值；以及

将所确定的统计值指派为对应分区的背景信号。

2. 如权利要求1所述的计算机实现方法，其特征在于，所述确定所述光学参数统计值的步骤包括确定所述分区内所有像素中的光学参数统计值。

3. 如权利要求2所述的计算机实现方法，其特征在于，还包括在确定所述光学参数统计值的步骤之前确定所述图像内颗粒占有率小于预定阈值。

4. 如权利要求2所述的计算机实现方法，其特征在于，还包括在确定所述光学参数统计值的步骤之前确定所述图像内颗粒占有率小于约50％。

5. 如权利要求1所述的计算机实现方法，其特征在于，还包括在确定所述分区内的所述光学参数统计值的步骤之前，在所述分区内标识呈现第一预定阈值以上的光学参数值的像素，其中对所述分区内多个像素确定所述光学参数统计值的步骤包括只在所述分区内未被标识为呈现所述第一预定阈值以上的光学参数值的一组像素中确定所述光学参数统计值。

6. 如权利要求5所述的计算机实现方法，其特征在于，还包括在确定所述光学参数统计值的步骤之前，将所标识的像素同与之紧邻排列的一个或多个像素形成组，其中用于确定所述光学参数统计值的所述一组像素不包括所述已成组像素。

7. 如权利要求5所述的计算机实现方法，其特征在于，还包括在确定所述光学参数统计值的步骤之前，确定所述图像内的颗粒占有率大于或等于第二预定阈值。

8. 如权利要求5所述的计算机实现方法，其特征在于，还包括在确定所述光学参数统计值的步骤之前，确定所述图像内的颗粒占有率大于或等于约50％。

9. 如权利要求1所述的计算机实现方法，其特征在于，确定所述光学参数统计值的步骤和将所确定的统计值指派为背景信号的步骤对所述阵列中多个分区的每一个进行，并且所述方法还包括在将所确定的统计值指派为所述多个分区的每一个的背景信号之后，将二维统计滤波器应用到所述分区阵列上。

10. 如权利要求1所述的计算机实现方法，其特征在于，确定所述光学参数统计值的步骤包括确定所述光学参数的中值。

11. 一种包括程序指令的存储介质，所述程序指令可由处理器执行用来：

分析具有与之关联的荧光材料的颗粒的图像，以在所述图像内标识呈现第一预定阈值以上的光学参数值的一个或多个像素；

在多组一个或多个所标识像素内确定分别在所述组内呈现所述光学参数的最大值的位置；以及

对围绕所述位置中至少一个的多个像素计算所述光学参数的强度变化率。

12. 如权利要求11所述的存储介质，其特征在于，还包括可由处理器执行用于以下步骤的程序指令：

在所计算的强度变化率大于或等于第二预定阈值时接受所述多个像素用于进一步评估；以及

在所计算的强度变化率小于所述第二预定阈值时拒绝对所述多个像素进行进一步评估。

13. 如权利要求11所述的存储介质，其特征在于，用于计算所述强度变化率的所述程序指令包括用于以下步骤的程序指令：

对排列在围绕所述至少一个位置的第一预定半径内的第一组多个像素的所述光学参数值进行求和；

对排列在围绕所述至少一个位置的第二预定半径内的第二组多个像素的所述光学参数值进行求和，其中所述第二预定半径与所述第一预定半径不同；

确定分别对所述第一和第二组像素计算的求和值的比值；

在确定所述比值与设定值相差小于或等于第二预定阈值的量时，接受所述多个像素用于进一步评估；以及

在确定所述比值与所述设定值相差大于所述第二预定阈值的量时，拒绝对所述多个像素进行进一步评估。

14. 如权利要求13所述的存储介质，其特征在于，所述第一预定半径约等于所述图像内单个颗粒的投影直径，其中所述投影直径基于用于对所述颗粒成像的系统的部件配置。