[发明专利]CDD/CMOS传感器检测用的图像处理方法和系统无效

专利信息
申请号: 200680034798.5 申请日: 2006-09-21
公开(公告)号: CN101268702A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 雅克·亨尼斯;让-克洛德·勒克莱尔;洛朗·迪弗雷舒 申请(专利权)人: 信息与电子工作室
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;G06T1/20;G01R31/26
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 许静
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: cdd cmos 传感器 检测 图像 处理 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种图像传感器(1)的检测系统,用来对传感器(1)提供的图像(I1-I3)执行处理,在处理过程中,对图像的每个像素都进行相同的处理,该检测系统包括多个处理模块(MT1-MT4),其中每个模块包括:

包括图像区(I)的存储器,在图像区(I)中要存储传感器(1)提供的待处理的图像(I1-I3);

与存储器相连的处理器(P1-P4),用于对图像区(I)中存储的图像的不同像素组执行所述相同的处理;

并且所述检测系统进一步包括采集卡(2),该采集卡(2)通过图像总线(BI1-BI4)与每个处理模块(MT1-MT4)的图像区(I)连接,以执行在每个处理模块(MT1-MT4)的图像区(I)中图像的同时存储。

2.根据所述权利要求1所述的系统,其特征在于每个处理模块(MT1-MT4)的存储器还设有控制区(C),控制区(C)用于给处理模块(MT1-MT4)的处理器(P1-P4)指定待处理的像素组(a、b、c、d)。

3.根据所述权利要求1或2所述的系统,其特征在于所述的每个处理器(P1-P4)都单独接受指令以处理该图像的不同像素组(a、b、c、d)。

4.根据所述权利要求1所述的系统,其特征在于每个处理模块(MT1-MT4)的存储器还设有程序区(P),用于以所述模块(MT1-MT4)的处理器(P1-P4)能执行的指令格式存储运算。

5.根据所述权利要求1所述的系统,其特征在于每个处理模块(MT1-MT4)的存储器还设有状态区(E),用于存储所述模块的处理器执行运算的状态。

6.根据所述权利要求1所述的系统,其特征在于还包括中心单元(20),通过系统总线(26)与电子采集卡(2)相连,电子采集卡(2)通过局域总线(BL1-BL4)与每个模块相连,通过系统总线(26)和每个局域总线(BL1-BL4),中心单元能控制每个处理模块的处理器进行上述运算和整理每个处理模块的处理器的处理结果。

7.根据所述权利要求1所述的系统,其特征在于传感器是CCD或CMOS传感器。

8.一种图像传感器(1)的检测方法,用来对传感器(1)提供的图像(I1-I3)执行处理,在处理过程中,对图像的每个像素都进行相同的处理,该检测方法包括如下步骤:

在多处理模块(MT1-MT3)中存储传感器(1)提供的待处理的所述图像(I1-I3);

在每个处理模块中对上述图像(I1-I3)的不同像素组执行所述相同的处理;及

对于每个处理模块所述存储阶段是同时进行的。

9.根据所述权利要求8所述的方法,其特征在于在每个处理模块的运算阶段都是同时进行的。

10.根据所述权利要求8所述的方法,其特征在于还包括参数传输阶段,用于给每个处理模块传输待处理像素组的参数。

11.根据所述权利要求8所述的方法,其特征在于包括状态传输阶段,在该阶段中,每个处理模块都向中心单元传输运算阶段的完成状态。

12.根据所述权利要求8所述的方法,其特征在于每个处理模块都向中心单元传输运算阶段的结果。

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