[发明专利]发光元件搭载用陶瓷烧结体无效
申请号: | 200680035533.7 | 申请日: | 2006-09-26 |
公开(公告)号: | CN101272997A | 公开(公告)日: | 2008-09-24 |
发明(设计)人: | 菅原研;三锅雄一郎;米田武彦;有行正男 | 申请(专利权)人: | 株式会社德山 |
主分类号: | C04B35/111 | 分类号: | C04B35/111;C04B35/581;H01L33/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 元件 搭载 陶瓷 烧结 | ||
1.发光元件搭载用陶瓷烧结体,其由如下所述的陶瓷烧结体形成:其具有光反射面,该光反射面对250nm~750nm的范围的各波长的光的反射率为70%以上,在将对750nm的光的反射率设为RA%、对300nm的光的反射率设为RB%时,成立下式(1)的关系,
|RA-RB|≤20(1)
并且,按照基于JIS H8504(1990)的带试验的方法对该光反射面进行带剥离试验时,不具有从该面剥离的层。
2.根据权利要求1所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体,从前述陶瓷烧结体的至少一个面的表面到至少15μm内部的特定区域,具有口径为100nm~2000nm的相互独立的多个空隙,口径不足400nm的空隙数相对于该空隙的总空隙数的比例为30~90%,口径为400nm以上、不足800nm的空隙数相对于该空隙的总空隙数的比例为10~70%。
3.根据权利要求2所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体,前述特定区域的总体积中的前述空隙的总体积的比例为5~30%。
4.根据权利要求2或3所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体,前述特定区域以α-氧化铝为主要成分。
5.根据权利要求2或3所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体,前述特定区域以α-氧化铝为主要成分,前述特定区域以外的部分以氮化铝为主要成分。
6.根据权利要求2或3所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体,前述特定区域形成前述陶瓷烧结体的全体,该特定区域以α-氧化铝为主要成分。
7.根据权利要求1~3任一项所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体的制造方法,该方法包括:准备可与反应性气体反应的原料陶瓷烧结体的工序;使该原料陶瓷烧结体与反应性气体反应而形成前述特定区域的工序,
在前述特定区域中形成口径为100nm~2000nm的相互独立的多个空隙的条件下,进行该原料陶瓷烧结体与反应性气体的反应。
8.根据权利要求5或6所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体的制造方法,该方法包括:准备氮化铝烧结体的工序;使该氮化铝烧结体与氧气反应而形成以α-氧化铝为主要成分的特定区域的工序,
在以α-氧化铝为主要成分的特定区域中形成口径为100nm~2000nm的相互独立的多个空隙的条件下,进行该氮化铝烧结体与氧气的反应。
9.根据权利要求1~6任一项所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体,对250nm~750nm的范围的各波长的光的反射率为75%以上。
10.根据权利要求9所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体的制造方法,该方法包括:准备氮化铝烧结体的工序;加热该氮化铝烧结体的工序,其中,在含氧气且露点调整至0~15℃的范围的气氛下,以1300℃以上的温度加热该氮化铝烧结体,直至从表面起至少15μm以上被氧化成氧化铝,且加热时间为与在该氧气分压为0.21atm时从表面起30μm被氧化成氧化铝的时间相同的时间以上。
11.根据权利要求9所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体的制造方法,该方法包括:准备包含至少一种烧结助剂成分的氮化铝烧结体的工序;加热该氮化铝烧结体的工序,其中,在含氧气且露点为-70℃以下的气氛下,以1300℃以上的温度加热该氮化铝烧结体,直至从表面起至少20μm被氧化成氧化铝。
12.发光元件用陶瓷封装体,其具备组成部件而构成,该组成部件由权利要求1~6、9任一项所述的发光元件搭载用陶瓷烧结体形成。
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