[发明专利]在自动测试设备中的数据捕获

说明书

技术领域

本专利申请主要涉及在自动测试设备中从被测器件捕获数据。

背景技术

通常，自动测试设备(ATE)是通常利用计算机驱动的、用于测试诸如半导体、电子电路以及印刷电路组件的器件的自动化系统。将被测试的器件称作被测器件(DUT)。

现代的ATE支持多测试点(multi-site)测试。支持多点测试的ATE包括具有测试槽或者“测试点”的测试器件。将要测试的器件，即，DUT，插入每个测试点，然后，该ATE对该测试点内的器件执行需要执行的任意测试。作为其测试的一部分，该ATE将信号发送到该DUT，然后，接收从该DUT返回的数据。某些方式的测试要求来自该DUT的数据可以基本上以连续流的方式可用获得。例如，一种比特误差测试要求捕获2³¹位大小的数据。迄今为止，难以实现捕获这样大小的数据。

发明内容

本专利申请描述了包括计算机程序产品的、用于捕获来自DUT的数据的设备和方法。

一般地，根据一个方面，本发明涉及一种用于自动测试设备(ATE)的方法，该自动测试设备具有用于放置被测器件(DUT)的测试点。该方法包括：以第一速率从该DUT接收数据；将该数据存储在缓冲器内；以第二速率将该数据移出该缓冲器，其中该第二速率大于或者等于该第一速率，而且其中该数据被移向处理装置；以及在该处理装置处对该数据进行测试。该方面可以包括如下一个或者多个特征。

ATE可以包括用于放置第二DUT的第二测试点，而且该方法可以进一步包括：以第三速率从该DUT接收第二数据；将该第二数据存储在对应于该第二测试点的第二缓冲器内；以第四速率将该第二数据移出该第二缓冲器。该第四速率大于或者等于该第三速率，该第二数据被移向该处理装置。该方法还可以包括：在该处理装置处根据该第二数据进行测试。该第一速率可以包括该数据的采样速率，而且该方法可以包括：基于该第一速率、该数据的采样数以及用于从该DUT传送数据的信道数，来确定该第二速率。

该第一速率基本上等于该第二速率。该缓冲器可以包括先进先出(FIFO)缓冲器，而且该FIFO缓冲器具有足够大的容量以能够容纳8兆数据采样，其中采样包括16位的数据。该方法可以包括：在该数据到达该处理装置之前，对该数据进行分组化。在将该数据移出该缓冲器时，对该数据进行分组化。该测试可以是比特误差测试。

一般地，根据另一个方面，本发明涉及ATE。该ATE包括：测试点，用于放置被测器件(DUT)；缓冲器；以及控制器，用于执行指令，以便：以第一速率从该DUT接收数据；将该数据存储在该缓冲器内；以及以第二速率将该数据移出该缓冲器，其中该第二速率大于或者等于该第一速率，而且其中该数据被移向处理装置。该处理装置根据该数据进行测试。该方面还可以包括如下一个或者多个特征。

附图和下面的描述详细说明了一个或者多个例子。根据下面的描述、附图以及权利要求书，本发明的其他特征、方面和优点显而易见。

附图说明

图1是示出包括ATE和计算机的测试系统的方框图。

图2是示出在该测试系统的计算机上执行的测试点回路期间进行的动作的流程图。

不同附图中的相同附图标记表示相同单元。

具体实施方式

参考图1，用于测试被测器件(DUT)的系统10包括测试器12，诸如自动测试设备(ATE)或者其他类似测试设备。为了控制测试器12，系统10包括计算机14，其通过硬线连接16与测试器12相接口连接。通常，计算机14将命令发送到测试器12，该命令启动执行用于测试DUT的例程和功能。这样执行测试例程可以启动产生测试信号，然后，将该测试信号发送到该DUT，然后，从该DUT采集响应。例如，包括诸如集成电路(IC)芯片(例如，存储芯片、微处理器、模数转换器、数模转换器等)的半导体器件的测试系统10可以测试各种DUT。

ATE 12包括用于将DUT连接到该ATE的器件接口板(DIB)13。DIB 13具有多个DUT，16a至16d。DUT可以被分割为多个测试点，以便利用该ATE进行测试。尽管图1中仅示出4个测试点，但是ATE12可以包括任意数量的测试点。此外，在图1所示的例子中，每个测试点上具有一个DUT，然而，不要求所有测试点均被占用，也不要求所有测试点仅含有一个DUT。每个DUT可以是可以利用ATE测试的诸如上述器件的任意类型器件。