[发明专利]用于自动自校准占空比电路以最大化芯片性能的设备和方法有效
申请号: | 200680036736.8 | 申请日: | 2006-09-26 |
公开(公告)号: | CN101278481A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | E·海鲁;D·W·伯伊尔斯特勒;齐洁明 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H03K5/156 | 分类号: | H03K5/156 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 赵冰 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 自动 校准 电路 最大化 芯片 性能 设备 方法 | ||
1.一种设备,包括:
占空比校正(DCC)电路;
耦合到DCC电路的DCC电路控制器;
耦合到DCC电路的阵列;以及
耦合到所述阵列和所述DCC电路控制器的内建自测电路,其中内建自测电路通过使用DCC电路的当前设置值对该阵列执行自测,DCC电路控制器响应于来自内建自测电路的表示阵列故障的结果将DCC电路的设置值递增到下一个递增的设置值,并且其中DCC电路控制器响应于来自内建自测电路的表示该阵列合格的结果将DCC电路的当前设置值设置为用于芯片的DCC设置值。
2.权利要求1的设备,其中所述DCC电路包括多个级,在所述多个级中的每一级当被使能时提供对该阵列的占空比的递增的改变,并且其中在所述多个级中的每一级分别能够根据来自DCC电路控制器的输入而被使能。
3.权利要求2的设备,其中所述多个级中的每一级包括:
至少一个放大器;以及
耦合到所述至少一个放大器的至少一个开关,其中所述至少一个开关由来自所述DCC电路控制器的输入进行控制。
4.前述权利要求中任一的设备,其中所述DCC电路控制器包括:
计数器;以及
耦合到所述计数器的译码器,其中:
所述计数器接收表示自测的结果表明自测合格还是失败的信号作为输入,当输入信号表示自测失败时递增,并把计数值信号输出到译码器,并且其中:
所述译码器接收来自所述计数器的计数值信号,根据计数值信号生成控制信号,并把控制信号输出到DCC电路。
5.权利要求4的设备,其中所述DCC电路控制器还包括:
与门,该与门接收来自内建自测电路的表示自测是合格还是失败的第一信号和作为用来驱动计数器的时钟信号的第二信号作为输入。
6.权利要求4或权利要求5的设备,其中所述DCC电路控制器还包括:
耦合到N位计数器的计数器溢出检测器,其中所述计数器溢出检测器检测计数器溢出条件何时出现,并当计数器溢出条件出现时重新初始化计数器。
7.权利要求6的设备,其中所述DCC电路控制器还包括:
耦合到所述计数器溢出检测器的芯片工作特性选择器,其中当计数器溢出条件出现时,计数器溢出检测器发送溢出信号到芯片工作特性选择器,并且其中芯片工作特性选择器响应于接收到溢出信号选择用于芯片的新的工作特性。
8.权利要求7的设备,其中所述新的工作特性是工作电压或工作频率中的至少一项,并且其中选择新的工作特性包括把工作电压递增到下一个更高的工作电压或者把工作频率递减到下一个更低的工作频率中的至少一项。
9.前述权利要求中任一的设备,其中所述DCC电路被初始设置为最低的设置值,并且每次内建自测电路表示施加到阵列的自测失败时述DCC电路被递增到下一个更较高的设置值,直至达到DCC电路的最大设置值为止,此时工作电压或工作频率中的至少一项被修改,DCC电路被重新初始化。
10.一种占空比校正(DCC)电路控制器,包括:
计数器;以及
耦合到所述计数器的译码器,其中所述计数器:
接收表示自测的结果表明自测是合格还是失败的输入信号,
当输入信号表示自测失败时递增,并且
把计数值信号输出到所述译码器,
其中所述译码器:
接收来自所述计数器的计数值信号,
根据计数值信号生成控制信号,并且
把控制信号输出到占空比校正(DCC)电路,其中DCC电路根据由译码器输出的控制信号递增地改变占空比。
11.权利要求10的DCC电路控制器,还包括:
与门,该与门接收来自内建自测电路的表示自测是合格还是失败的第一信号和作为用来驱动计数器的时钟信号的第二信号作为输入。
12.权利要求10或权利要求11的DCC电路控制器,还包括:
耦合到N位计数器的计数器溢出检测器,其中所述计数器溢出检测器检测计数器溢出条件何时出现,并当计数器溢出条件出现时重新初始化计数器。
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