[发明专利]用于CSCT的采集参数优化无效
申请号: | 200680036974.9 | 申请日: | 2006-10-04 |
公开(公告)号: | CN101283262A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | J·-P·施洛姆卡;U·范斯蒂文达尔;A·思兰;R·格雷沃 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01N5/00 | 分类号: | G01N5/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李亚非;刘红 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 csct 采集 参数 优化 | ||
1.一种用于有关物体(107)的检查的计算机断层成像装置(100),所述计算机断层成像装置(100)包括:
辐射源(104),所述辐射源(104)适合于沿着源路径移动并向所述有关物体(107)发射电磁辐射束;
探测器单元(108),所述探测器单元(108)适合于从所述有关物体(107)分别采集散射的辐射数据和发射的辐射数据;以及
计算单元(118),所述计算单元(118)适合于以在第一次数据采集期间所采集的辐射数据的基础上进行随后的第二次数据采集的采集参数的优化。
2.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:在所述辐射源(104)的全部或部分第一次旋转期间利用所述探测器单元(108)进行所述第一次数据采集。
3.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:所述采集参数对应于所述辐射源的通量,而且
所述计算机断层成像装置(100)适合于在所采集的辐射数据的基础上对所述辐射源的通量输出进行调制,从而导致优化的通量调制。
4.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:在从所述第一次数据采集所产生的投射数据中的至少一种的基础上进行所述随后的第二次数据采集的采集参数的优化。
5.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:在从所述第一次数据采集所产生的重构图像的基础上进行所述随后的第二次数据采集的采集参数的优化。
6.如权利要求3所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:进行所述通量输出调制,以使在从具有最大吸收的方向观察所述有关物体(107)时达到最大值。
7.如权利要求3所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:所述计算单元(118)适合于在所述有关物体(107)的衰减属性的断面图像的基础上计算最佳通量输出调制。
8.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:利用用于测量所述有关物体(107)的预扫描的预扫描仪进行所述第一次数据采集,从而产生预扫描投射数据;
其中,所述采集参数优化以所述预扫描数据为基础。
9.如权利要求8所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:所述预扫描仪是一种多视点预扫描仪。
10.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:还包括高压发电机;
其中,所述采集参数对应于所述高压发电机的电压;以及
其中,所述计算机断层成像装置(100)适合于在所采集的辐射数据的基础上确定所述电压,从而产生用于所述随后的第二次数据采集的优化的电压。
11.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:所述计算单元(118)适合于:
在单发送图像的基础上计算近似平均衰减;以及
在所述近似平均衰减的基础上计算用于所述随后的第二次数据采集的优化的电压。
12.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:所述计算机断层成像装置(100)适合于作为由扇形射束相干散射计算机断层成像装置、锥束相干散射计算机断层成像装置和直接断层成像相干散射计算机断层成像装置所组成的组中的一种。
13.如权利要求8所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:所述采集参数对应于一种位置,在所述随后的第二次数据采集期间,在所述位置对相干散射计算机断层成像层片进行测量。
14.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:所述计算机断层成像装置(100)构造成由行李检查装置、医学应用装置、材料测试装置和材料科学分析装置所组成的组中的一种。
15.如权利要求1所述的计算机断层成像装置(100),其特征在于:所述计算机断层成像装置(100)构造成由能量分辨的相干散射计算机断层成像装置和非能量分辨的相干散射计算机断层成像装置所组成的组中的一种。
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