[发明专利]存储器扫描测试

权利要求书

1.一种用于测试包含存储单元的半导体装置的方法，所述方法包括：

提供具有数字部分和模拟部分的装置；所述数字部分包含多个锁存器装置，且所述模拟部分包含多个存储单元和多个选择器装置；所述选择器装置的每一者电耦合到所述存储单元的相应一者，所述选择器装置的每一者至少间接耦合到所述多个锁存器装置的一者，且所述多个选择器装置的至少一者由选择器输入控制；

将负载时钟施加到所述多个锁存器装置，其中将图案加载到所述多个锁存器装置中；

驱动所述选择器输入，使得所述图案的推导图由所述多个选择器接收，且所述图案的所述推导图返回到所述多个锁存器装置的至少一子集；以及

将系统时钟施加到所述多个锁存器装置，其中将所述图案的所述推导图加载到所述多个锁存器装置中。

2.根据权利要求所述的方法，其中所述多个锁存器装置形成于扫描链中，且其中将所述负载时钟施加到所述多个锁存器装置以使得所述图案被加载到所述多个锁存器装置中包含向所述扫描链提供所述负载时钟的多个循环。

3.根据权利要求2所述的方法，其进一步包括：

将所述负载时钟施加到所述扫描链中的所述多个锁存器装置，其中所述图案的所述推导图由所述多个锁存器装置提供到输出；以及

其中将所述图案的所述推导图从所述多个锁存器装置提供到所述输出包含向所述扫描链提供所述负载时钟的多个循环。

4.根据权利要求1到3中任一权利要求所述的方法，其中在所述选择器输入处于第一电平时，将所述系统时钟施加到所述多个锁存器装置，且其中在所述选择器输入处于第二电平时，将所述负载时钟施加到所述多个锁存器装置。

5.根据权利要求1到3中任一权利要求所述的方法，其中所述图案是第一图案；其中所述图案的所述推导图是所述图案的第一推导图；且所述方法进一步包括：

将所述负载时钟施加到所述多个锁存器装置，其中将第二图案加载到所述多个锁存器装置中；

驱动所述选择器输入，使得所述图案的推导图写入所述存储单元的至少一部分；以及

将所述系统时钟施加到所述多个锁存器装置，其中所述第二图案的推导图从所述存储单元的所述部分加载到所述多个锁存器装置。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述多个锁存器装置形成于扫描链中，且其中将所述负载时钟施加到所述多个锁存器装置以使得所述第一图案被加载到所述多个锁存器装置中包含向所述扫描链提供所述负载时钟得多个循环，且其中将所述负载时钟施加到所述多个锁存器装置以使得所述第二图案被加载到所述多个锁存器装置中包含向所述扫描链提供所述负载时钟得多个循环。

7.根据权利要求6所述的方法，其进一步包括：

将所述负载时钟施加到所述扫描链中的所述多个锁存器装置，其中所述第二图案的所述推导图由所述多个锁存器装置提供到输出；以及

其中将所述第二图案的所述推导图从所述多个锁存器装置提供到所述输出包含向所述扫描链提供所述负载时钟的多个循环。

8.一种经配置以用于促进半导体装置测试的半导体装置，所述系统包括：

混合信号装置，其包含模拟部分和数字部分；

其中所述模拟部分包含多个存储单元，其每一者与相应的选择器装置相关联；其中所述多个存储单元和所述相关联的选择器装置可经由所述数字部分存取；且其中所述相应的选择器装置可操作以绕过所述相关联的存储单元；以及

其中所述数字部分包含耦合到所述选择器装置中的一者或一者以上的多个锁存器装置。

9.根据权利要求8所述的装置，其中所述多个锁存器装置形成于扫描链中。

10.根据权利要求9所述的装置，其中使用负载时钟以图案来对所述扫描链进行加载，且其中使用系统时钟来从所述多个选择器装置锁存所述图案的推导图。

11.根据权利要求8、9或10所述的系统，其中使用系统时钟来对所述数字部分进行计时，其中所述相应的选择器装置是经由选择器输入控制的多路复用器，且其中当所述选择器输入处于特定电平时，在所述系统时钟的一个循环内，从所述数字部分提供到所述多路复用器的数据返回到所述数字部分。

12.根据权利要求8、9或10所述的系统，其中所述相应的选择器装置是经由选择器输入控制的多路复用器，且其中当所述选择器输入处于特定电平时，从所述数字部分提供到所述多路复用器的数据写入所述相关联的存储单元。