[发明专利]测量电子元件和组件中六价铬的方法

权利要求书

1.一种测量电子元件和组件中六价铬的方法，包括：

提供包含电子元件或组件的样品；

用X-射线荧光光谱分析至少一部分样品，以确定基质；

如果基质是铝，那么用第一参数组来提取和分析六价铬的量；

如果基质是锌，那么用第二参数组来提取和分析六价铬的量；

如果基质是皮革，那么用第三参数组来提取和分析六价铬的量；

如果基质是镀钢，那么用第四参数组来提取和分析六价铬的量；

如果基质是印刷电路板或印刷电路组件，那么用第五参数组来提 取和分析六价铬的量；

如果基质是除了铝、锌、皮革、镀钢、印刷电路板或印刷电路组 件之外的材料，那么用第六参数组来提取和分析六价铬的量；以及

基于所分析的六价铬的量，计算作为样品单位面积的函数的六价 铬的浓度。

2.如权利要求1所述的方法，其中，用第一参数组提取包括在温 度大于90℃并且pH值大约是7的水中提取。

3.如权利要求1所述的方法，其中，用第二参数组提取包括在温 度大于90℃并且pH值大约是11的水中提取。

4.如权利要求1所述的方法，其中，用第三参数组提取包括在温 度大于90℃并且pH值大约是8的磷酸盐缓冲水中提取。

5.如权利要求1所述的方法，其中，用第四参数组提取包括在温 度大于90℃的KOH或NaOH水溶液中提取。

6.如权利要求1所述的方法，其中，用第五参数组提取包括在温 度大于90℃并且pH值大约是2的水中提取。

7.如权利要求1所述的方法，其中，第一至第六参数组中的每一 组都包括用于分析的独特的校准曲线。

8.如权利要求7所述的方法，其中，在每个分析方案中，六价铬 都是通过使所提取的六价铬与1，5二苯卡巴阱反应以及用紫外光谱进 行分析来测量的。

9.如权利要求1所述的方法，其中，提取是在惰性气氛下进行的。

10.一种测量电子元件和组件中六价铬的方法，包括：

提供包含电子元件或组件的样品；

用X-射线荧光光谱分析至少一部分样品，以确定基质；

基于所确定的基质，从由铝提取及分析方案、锌提取及分析方案、 皮革提取及分析方案、钢提取及分析方案、印刷电路板提取及分析方 案以及印刷电路组件提取及分析方案组成的组中选择方案；

用所选择的方案处理样品以便提取和测量六价铬的量；以及

基于所测量的六价铬的量，计算作为样品单位面积的函数的六价 铬的浓度。

11.如权利要求10所述的方法，其中，在每个分析方案中，六价 铬都是通过使所提取的六价铬与1，5二苯卡巴阱反应以及用紫外光谱 分析来测量的。

12.如权利要求10所述的方法，其中，铝提取及分析方案包括在 温度大于90℃并且pH值大约是7的水中提取样品，以及用铝校准曲 线来测量六价铬的量。

13.如权利要求10所述的方法，其中，锌提取及分析方案包括在 温度大于90℃并且pH值大约是11的水中提取样品，以及用锌校准曲 线来测量六价铬的量。

14.如权利要求10所述的方法，其中，皮革提取及分析方案包括 在温度大于90℃并且pH值大约是8的磷酸盐缓冲水中提取样品，以 及用皮革校准曲线来测量六价铬的量。

15.如权利要求10所述的方法，其中，钢提取及分析方案包括在 温度大于90℃的KOH或NaOH水溶液中提取样品，以及用钢校准曲 线来测量六价铬的量。

16.如权利要求10所述的方法，其中，印刷电路板提取及分析方 案以及印刷电路组件提取及分析方案分别包括在温度大于90℃并且 pH值大约是7的水中提取样品，以及用印刷电路板校准曲线来测量六 价铬的量。

17.一种测量电子元件和组件中六价铬的方法，包括：

提供包含电子元件或组件的样品；

用X-射线荧光光谱分析至少一部分样品，以确定基质；

基于所确定的基质，从由铝提取及分析方案、锌提取及分析方案、 皮革提取及分析方案、钢提取及分析方案、印刷电路板提取及分析方 案以及印刷电路组件提取及分析方案组成的组中选择方案；

用所选择的方案从样品中提取六价铬；

通过使所提取的六价铬与1，5二苯卡巴阱络合，以及用紫外光谱 测量该络合物来分析所提取的六价铬；以及

基于所测量的六价铬的量，计算作为样品单位面积的函数的六价 铬的浓度。