[发明专利]使用镥本底辐射的PMT增益和能量校准无效

专利信息
申请号: 200680038455.6 申请日: 2006-09-15
公开(公告)号: CN101292174A 公开(公告)日: 2008-10-22
发明(设计)人: S·库克;T·劳伦斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01T1/202;G01T1/164
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 黄睿;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 使用 本底 辐射 pmt 增益 能量 校准
【权利要求书】:

1、一种诊断成像设备(10),包括:

至少一个响应于入射辐射而发光的闪烁元件(18),所述闪烁元件(18) 表现出至少一个特征能量的固有放射性;

与所述至少一个闪烁元件(18)进行光通信的光电倍增管阵列,所述 光电倍增管的每个都对入射辐射产生响应,所述响应随时间而变化且在所 述光电倍增管之间有变化;

光电倍增管自校准处理器(40),其使用所述至少一个闪烁元件(18) 的所述固有放射性再次校准所述光电倍增管的响应。

2、根据权利要求1所述的诊断成像设备(10),其中,所述校准处理 器(40)针对光电倍增管增益和响应幅度中的至少一个确定校准因子。

3、根据权利要求1所述的诊断成像设备(10),其中,所述至少一个 闪烁元件(18)包含镥。

4、根据权利要求3所述的诊断成像设备(10),其中,所述固有放射 性来自大量天然镥176

5、根据权利要求1所述的诊断成像设备(10),还包括:

包含对于每个光电倍增管的增益设置的增益存储器(28);以及

所述自校准处理器(40)确定在单光子模式下由所述光电倍增管之一 探测到的响应中的特征峰,并线性地调节相应的光电倍增管的增益设置, 以校正所述响应信号中所述特征峰的定位。

6、根据权利要求5所述的诊断成像设备(10),其中,所述自校准处 理器(40)包括中央滤波器(66),其将所探测到的闪烁限制为在每个光电 倍增管下方的闪烁。

7、根据权利要求1所述的诊断成像设备(10),其中,所述自校准处 理器(40)处理来自符合模式下的响应的至少一个特征峰并相应地调节探 测光电信增管的增益。

8、根据权利要求1所述的诊断成像设备,其中,所述至少一个闪烁器 包括闪烁器阵列,所述闪烁器之间的闪烁光输出有变化,并且还包括:

包含用于所述多个闪烁器中每个的幅度缩放因子的幅度校正存储器 (32);

所述自校准确定响应于由每个所述闪烁器探测到的闪烁调节用于光电 倍增管输出的所述缩放因子。

9、根据权利要求1所述的诊断成像设备(10),还包括:

包含对于每个光电倍增管的增益设置的增益存储器(28);以及

包含用于所述多个闪烁器中每个的幅度缩放因子的幅度校正存储器 (32);

更新所述增益存储器和所述幅度校正存储器中的至少一个的所述自校 准处理器(40)。

10、根据权利要求9所述的诊断成像设备,其中,所述自校准处理器 (40):

根据所述光电倍增管响应于闪烁的输出确定响应峰;

调节所述响应的光电倍增管的增益设置,将所述响应峰移动到与预选 特征曲线的对应峰对准;

确定所述闪烁器中哪个产生所述闪烁;以及

调节所述产生闪烁的闪烁器的缩放因子,使得所述响应峰的幅度与所 述预选特征曲线的所述对应峰在幅度上对应。

11、根据权利要求1所述的设备,其中,所述自校准处理器(40)在 诊断成像间的停机时间期间校准所述光电倍增管的所述响应。

12、一种对诊断成像扫描器(10)进行校准的方法,包括:

利用表现出至少一个特征能量的固有放射性的闪烁元件阵列产生本底 辐射;

响应于由所述闪烁元件发射的本底辐射利用所述闪烁元件产生光子发 射;

利用所述光电倍增管产生对所述光子发射的响应,所述响应在所述光 电倍增管之间有所变化;以及

使用对所述闪烁元件的所述固有本底辐射的响应校准所述光电倍增 管。

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