[发明专利]用于检测电子束的多层检测器和方法有效

专利信息
申请号: 200680040009.9 申请日: 2006-10-10
公开(公告)号: CN101297219A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 安德斯·克里斯蒂安松;拉尔斯·奥克·内斯隆德;汉斯·哈尔斯坦迪斯 申请(专利权)人: 利乐拉瓦尔集团及财务有限公司
主分类号: G01T1/18 分类号: G01T1/18;H01J47/14
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 章社杲;吴贵明
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 电子束 多层 检测器 方法
【权利要求书】:

1.一种用于检测产生的电子束(106)的强度的检测器,其包括:

多层复合结构(104;200;300;400;500;600;608; 616;700;800),其具有第一导电芯(110;402;502;504; 602;610;618;704;706;802)、形成在该第一导电芯上的 绝缘层(112;404;506;508;604;612;620;708;804) 以及电连接到足以影响在该检测器附近区域内从等离子抽出 电子的速率的电压电位并形成在该绝缘层上的外部导电层 (114;406;510;606;614;622;702;806),其中所述绝 缘层形成为具有足够的厚度以防止等离子电子到达该导电芯, 所述等离子电子为该电子束的初级电子与空气中的分子相碰 撞而在该检测器附近区域内产生的次级电子,以及

支撑件(116),其配置为在将由电子束发生器(102)产 生的电子束(106)的直接路径内,在该电子束发生器(102) 和目标区域(108)之间,将该复合结构设置为与电子束发生 器(102)对准。

2.根据权利要求1所述的检测器,其中该外部导电层(114;406; 510;606;614;622;702;806)连接到该检测器(104;200; 300;400;500;600;608;616;700;800)的接地电位。

3.根据权利要求1所述的检测器,其中该外部导电层(114;406; 510;606;614;622;702;806)围绕该导电芯(110;402; 502;504;602;610;618;704;706;802)。

4.根据权利要求1所述的检测器,其与电子束发生器(102)相 结合,该检测器包括:

用于沿路径发射电子束(106)的电子束发生器(102); 以及

真空室(124),在该室内设置有该电子束发生器(102) 的热丝(122)。

5.根据权利要求4所述的检测器,其与在目标区域(108)内把 持目标材料的支撑件(126)相结合,该检测器设置在该电子 束发生器(102)和该目标区域(108)之间。

6.根据权利要求4所述的检测器,其中该复合结构形成在该真空 室(124)的电子束出射窗口(128)上。

7.根据权利要求1所述的检测器,其包括:

电流计(132;206;208;412;512;514;714),其用 于检测该导电芯(110;402;502;504;602;610;618;704, 706;802)内的电流,作为电子束强度的度量。

8.根据权利要求1所述的检测器,其包括:

形成为栅格的该复合结构(302)的阵列,以在该路径内 复数个位置的每个处检测该电子束(106)的强度。

9.根据权利要求7所述的检测器,其中该复合结构布置为相对于 该目标区域(108)内目标材料的期望传送方向成角度,并在 横断该电子束(106)路径的平面内。

10.根据权利要求1所述的检测器,其包括:

形成在该绝缘层(506;708)上的第二导电芯(504;704); 以及

形成在该第二导电芯(504;704)上的第二绝缘层(508; 708),其中该外部导电层(510;702)形成在该第二绝缘层(508; 708)上,从而该第二导电芯(504;704)和该第二绝缘层(508; 708)形成于第一导电芯(502;706)和该外部导电层(510; 702)之间。

11.根据权利要求10所述的检测器,沿该路径定向,从而沿该路 径产生的电子在接触该第一导电芯(502;706)之前经过该外 部导电层(510;702)和该第二导电芯(504;704)。

12.根据权利要求1所述的检测器,其包括:

多个导电芯(502,504;704,706),其由绝缘层(506; 708)分开。

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