[发明专利]用于测量材料密度的方法、系统及计算机程序产品

权利要求书

1.一种用于测量样品建筑材料的密度的核子密度测量计，所述核子密度测量计包括：

(a)辐射源，安置在样品建筑材料内部并适于从所述样品建筑材料内部发射辐射；

(b)辐射探测器，与所述辐射源分开安置并可用于产生表示探测的辐射的能量水平的信号；以及

(c)材料性质计算功能元件，配置为基于由所述辐射探测器产生的所述信号来计算与所述样品建筑材料的密度相关的值。

2.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述辐射源是伽玛辐射源，并且其中，所述辐射探测器是伽玛辐射探测器。

3.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述辐射源包括从包含铯-137、钴-60、及镭-226的组中选择的材料。

4.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述辐射源适于发射具有离散的能量和均匀的分布的辐射。

5.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述样品建筑材料包括从包含泥土、沥青、及石头的组中选择的材料。

6.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述样品建筑材料包括从包含铺筑材料、底基材料、及地基材料的组中选择的材料。

7.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述辐射探测器是能量选择的伽玛辐射探测器。

8.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述辐射探测器是闪烁类型的伽玛辐射探测器。

9.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，表示探测的辐射的能量水平的所述信号表示所述探测的辐射的能谱的预定部分，并且其中，所述材料性质计算功能元件配置为基于所述探测的辐射的所述能谱的所述预定部分来计算与所述样品建筑材料的密度相关的值。

10.如权利要求9所述的核子密度测量计，其中，所述材料性质计算功能元件配置为分类和累加对应于所述能谱的所述预定部分的一个或多个通道中的信号。

11.如权利要求10所述的核子密度测量计，其中，所述材料性质计算功能元件配置为分类和累加所述探测的辐射的所述能谱范围中的多个通道中的信号，并且其中，至少一个通道规定所述能谱的所述预定的部分。

12.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述材料性质计算功能元件配置为计算所述样品建筑材料的密度值，其被针对环境背景辐射进行校正。

13.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述材料性质计算功能元件配置为基于校准曲线来针对密度值计算进行校正。

14.如权利要求1所述的核子密度测量计，包括可用于显示与所述样品建筑材料的密度相关的值的显示器。

15.如权利要求1所述的核子密度测量计，其中，所述辐射源用于安置在所述样品建筑材料的表面并且适于朝向所述样品建筑材料的内部发射辐射。

16.一种用于测量建筑材料的密度的材料性质测量计，所述材料性质测量计包括：

(a)辐射源，安置为发射辐射到样品建筑材料中；

(b)辐射探测器，与所述辐射源分开安置，并可用于探测来自所述样品建筑材料的辐射和产生表示所述探测的辐射的信号；

(c)湿度性质探测器，可用于确定所述样品建筑材料的湿度性质，并可用于产生表示所述湿度性质的信号；以及

(d)材料性质计算功能元件，配置为基于由所述辐射探测器和所述湿度性质探测器所产生的所述信号来计算与所述样品建筑材料相关的性质值。

17.如权利要求16所述的材料性质测量计，其中，所述辐射源包括从包含铯-137、钴-60、及镭-226的组中选择的材料。

18.如权利要求16所述的材料性质测量计，其中，所述辐射源适于发射具有离散的能量和均匀的分布的辐射。

19.如权利要求16所述的材料性质测量计，其中，所述样品建筑材料包括从包含泥土、沥青、及石头的组中选择的材料。

20.如权利要求16所述的材料性质测量计，其中，所述样品建筑材料包括从包含铺筑材料、底基材料、及地基材料的组中选择的材料。