[发明专利]低辐射的覆盖玻璃及其应用无效
申请号: | 200680040795.2 | 申请日: | 2006-10-02 |
公开(公告)号: | CN101300198A | 公开(公告)日: | 2008-11-05 |
发明(设计)人: | 安德里斯·韦伯;霍尔格·韦格纳;赖因哈德·卡斯纳;彼得·布里克斯 | 申请(专利权)人: | 肖特股份公司 |
主分类号: | C03B18/02 | 分类号: | C03B18/02;C03B5/43;C03C3/091 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 章社杲;吴贵明 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 覆盖 玻璃 及其 应用 | ||
1.一种用于对辐射敏感的传感器的低辐射覆盖玻璃,特别是在半导体技术中,所述覆盖玻璃具有低的α固有辐射,包括选自铝硅酸盐玻璃、铝硼硅酸盐玻璃、硼硅酸盐玻璃,特别是不含碱金属的硼硅酸盐玻璃的玻璃组成成分,具有在>0.1-10重量%,特别是1-8重量%范围内的TiO2含量。
2.根据权利要求1所述的低辐射覆盖玻璃,其特征在于,所述肽含量在1.5至7重量%,特别优选在2至6重量%,完全特别优选在3至5重量%的范围内。
3.根据权利要求1或2所述的低辐射覆盖玻璃,其特征在于,所述覆盖玻璃具有α辐射为<0.0020计数/cm2h,优选为<0.0015计数/cm2h,特别优选为<0.0013计数/cm2h。
4.根据前述权利要求1至3中至少一项所述的低辐射覆盖玻璃,其特征在于,所述覆盖玻璃具有γ辐射为<2.00Bq/g,优选为<1.67Bq/g。
5.根据前述权利要求1至4中至少一项所述的低辐射覆盖玻璃,其特征在于,所述玻璃组成成分具有K2O含量为0-20重量%,特别是>5-8重量%。
6.根据前述权利要求1至5中至少一项所述的低辐射覆盖玻璃,其特征在于,所述玻璃组成成分选自下面的组成成分之一(在氧化物基础上的重量%):
SiO2 60-70重量%
Na2O 1-10重量%
K2O 0-20重量%,特别是>5-8重量%,
ZnO 0-10重量%
Al2O3 0-10重量%
B2O3 0-10重量%
TiO2 >0.1-10重量%,特别是1至8重量%,
Sb2O3 0-2重量%。
7.根据前述权利要求1至5中至少一项所述的低辐射覆盖玻璃,其特征在于,所述玻璃组成成分选自下面的组成成分之一(在氧化物基础上的重量%):
SiO2 48-58重量%
BaO 10-30重量%
B2O3 1-15重量%
Al2O3 0-20重量%
As2O3 0-2重量%
SrO 0-3重量%
CaO 0-5重量%
其中BaO的1至2重量%被更换为TiO2。
8.根据权利要求7所述的低辐射覆盖玻璃,其特征在于,在所述玻璃组成成分中TiO2含量为0.1-10重量%,特别是1至6重量%。
9.根据权利要求7所述的低辐射覆盖玻璃,其特征在于,所述使用的BaO不含有或基本上不含有镭。
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