[发明专利]等离子体诊断设备及方法无效
申请号: | 200680041101.7 | 申请日: | 2006-10-02 |
公开(公告)号: | CN101361176A | 公开(公告)日: | 2009-02-04 |
发明(设计)人: | 郑进旭;李敏馨;张圣虎 | 申请(专利权)人: | 韩国标准科学研究院;郑进旭 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩明星;张军 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 等离子体 诊断 设备 方法 | ||
1、一种包括插入到等离子体中或置于等离子体的边界处的探针单元的等离子体诊断设备,所述设备包括:
信号提供单元,具有信号提供源;
电流检测/电压转换单元,用于将从信号提供单元施加的周期性电压信号施加到探针单元、检测流过探针单元的电流的幅值并将检测的电流转换为电压;
分频测量单元,用于接收从电流检测/电压转换单元输出的电压作为输入,并计算流过探针单元的电流的各个频率分量的幅值和相位。
2、如权利要求1所述的等离子体诊断设备,还包括:
另一探针单元,连接到信号提供单元并插入到等离子体中。
3、如权利要求1所述的等离子体诊断设备,其中,电流检测/电压转换单元包括:电流检测电阻器,串联连接到探针单元的后端;差分放大器,用于测量电流检测电阻器的两端之间的电势差,并计算流过探针单元的电流的幅值。
4、如权利要求1所述的等离子体诊断设备,其中,信号提供单元还包括:信号放大器,具有连接到信号提供源的一个输入端、连接到电流检测电阻器的前端或后端的另一输入端以及连接到电流检测电阻器的后端的输出端。
5、如权利要求1所述的等离子体诊断设备,其中,分频测量单元使用FFT。
6、如权利要求1所述的等离子体诊断设备,其中,分频测量单元包括:
操作电路单元,用于接收从电流检测/电压转换单元输出的电压和周期性电压信号作为输入,并执行预置操作;
低通滤波单元,用于对操作电路单元的操作结果进行低通滤波,并计算流过探针的电流的各个频率分量的幅值。
7、如权利要求1所述的等离子体诊断设备,其中,用于DC电流阻断的电容元件设置在等离子体和探针单元之间、在探针单元和电流检测/电压转换单元之间以及在电流检测/电压转换单元和信号提供单元之间的至少一处。
8、如权利要求1所述的等离子体诊断设备,其中,通过下面的等式来校正从信号提供单元施加到探针单元的周期性电压信号的幅值,并将其施加到等离子体:
Vsh=RshV0/(Rs+Rsh)
其中,Rsh为作为离子密度和电子温度的函数的鞘电阻,V0为施加到探针单元的周期性电压信号的幅值,Rs为连接到探针单元的电路和装置的电阻。
9、如权利要求1所述的等离子体设备,其中,通过在信号提供单元施加或不施加电信号之间的浮置电势变化来测量电子温度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韩国标准科学研究院;郑进旭,未经韩国标准科学研究院;郑进旭许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造