[发明专利]减少X射线探测器中3D伪影的方法有效

专利信息
申请号: 200680041710.2 申请日: 2006-11-07
公开(公告)号: CN101304689A 公开(公告)日: 2008-11-12
发明(设计)人: P·G·范德哈尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;G01T1/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 黄睿;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 减少 射线 探测器 方法
【权利要求书】:

1.一种减少使用X射线系统关于对象获得的X射线图像中差别伪影 的方法,其中所述X射线系统包括X射线源(4),用于照射所述对象;还包 括X射线探测器(5),用于接收穿过所述对象的X辐射并产生表示其强度分 布的电信号,所述X射线探测器包括用于接收入射其上的X辐射并将所述 X辐射转换成光辐射的闪烁体(11),所述方法包括:在所述X射线源(4)和X 射线探测器(5)之间没有对象的时候,通过使所述X射线源(4)产生X辐射束 并使所述探测器(5)接收所述X辐射束的X辐射并产生表示均匀伪影的电信 号,来周期性地获得去伪影扫描,其中所述均匀伪影是由所述X辐射束的 X辐射入射其上的所述探测器(5)导致的,并且其中,以较高X辐射探测器 剂量执行所述去伪影扫描,所述均匀伪影所需的剂量使得基本上所有闪烁 体的陷阱被填满。

2.根据权利要求1所述的方法,其中至少每天执行一次所述去伪影扫 描。

3.根据权利要求1所述的方法,其中在所述X射线系统打开的时候自 动执行所述去伪影扫描。

4.根据权利要求1所述的方法,其中通过与对各个对象获得随后扫描 所使用的基本相同数量级的探测器剂量来执行所述去伪影扫描。

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