[发明专利]光反射用材料、发光元件收纳用封装体、发光装置及发光元件收纳用封装体的制造方法有效
申请号: | 200680043570.2 | 申请日: | 2006-11-21 |
公开(公告)号: | CN101313416A | 公开(公告)日: | 2008-11-26 |
发明(设计)人: | 岸本圭一;井田诚;寺石良明 | 申请(专利权)人: | 日本电石工业株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;C04B35/10;G02B5/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 蒋亭;苗堃 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 反射 用材 发光 元件 收纳 封装 装置 制造 方法 | ||
1.光反射用材料,其特征在于,含有74.6质量%以上的烧结后平均粒径为2.5μm以下的氧化铝,
其中所述光反射用材料含有0.698质量%~22.4质量%的钡元素。
2.发光元件收纳用封装体,其特征在于,具有由陶瓷构成的基板、以及在所述基板上面形成的框体,所述框体由含有74.6质量%以上的烧结后平均粒径为2.5μm以下的氧化铝和0.698质量%~22.4质量%的钡元素的光反射材料构成。
3.根据权利要求2所述的发光元件收纳用封装体,其特征在于,所述基板具有导体装载部,并在导体装载部的上面装载发光元件。
4.发光装置,其特征在于,具有基板、框体、以及发光元件,
所述基板由陶瓷构成,且具有导体装载部,在导体装载部的上面装载发光元件,
所述框体以包围所述导体装载部的方式而形成在所述基板的上面,由含有74.6质量%以上的烧结后平均粒径为2.5μm以下的氧化铝和0.698质量%~22.4质量%的钡元素的光反射材料构成,
所述发光元件装载于所述基板的所述导体装载部。
5.发光元件收纳用封装体的制造方法,其特征在于,在制造具有由陶瓷构成的基板、在所述基板的上面形成的框体的发光元件收纳用封装体时,包含下述工序:
生成含有氧化铝粒子的原料粉末的工序;
将所述原料粉末成型,制备框体形状物的工序;
煅烧所述框体形状物,得到含有74.6质量%以上的平均粒径为2.5μm以下的氧化铝和0.698质量%~22.4质量%的钡元素的所述框体的工序。
6.根据权利要求5所述的发光元件收纳用封装体的制造方法,其特征在于,在得到所述框体的工序中的煅烧温度为1350~1650℃。
7.根据权利要求5所述的发光元件收纳用封装体的制造方法,其特征在于,所述原料粉末含有碳酸钡。
8.根据权利要求7所述的发光元件收纳用封装体的制造方法,其特征在于,在得到所述框体的工序中的煅烧温度为1350~1650℃。
9.根据权利要求5~8中任一项所述的发光元件收纳用封装体的制造方法,其特征在于,在制备所述框体形状物的工序中,通过在模具中加入所述原料粉末并施加压力,从而制备所述框体形状物。
10.根据权利要求5~8中任一项所述的发光元件收纳用封装体的制造方法,其特征在于,在制备所述框体形状物的工序中,通过由所述原料粉末制备原料片,以规定的形状冲裁该原料片,从而制备所述框体形状物。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电石工业株式会社,未经日本电石工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680043570.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电阻炉
- 下一篇:发光器件和制造发光器件的方法