[发明专利]用于建立离子束相对于晶圆的方位及修正角度误差的装置有效

专利信息
申请号: 200680045119.4 申请日: 2006-11-17
公开(公告)号: CN101322219A 公开(公告)日: 2008-12-10
发明(设计)人: R·雷斯梅尔;B·范德贝尔格 申请(专利权)人: 艾克塞利斯技术公司
主分类号: H01J37/244 分类号: H01J37/244;H01J37/317
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;张志醒
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 建立 离子束 相对于 方位 修正 角度 误差 装置
【权利要求书】:

1.一种帮助离子植入的装置,包括:

可操作地与终端站相关联的测量部件,该终端站被配置为相对于 离子束定位工件,使得行进在该离子束中的离子在选定位置撞击该工 件,在该位置处所述测量部件协助确定所述离子束以及所述工件之间 的相对方位,所述测量部件刚性附着于在植入期间所述工件存在于其 上的、所述终端站的部件,使得所述测量部件的表面或者与其垂直的 方向相对于所述工件的表面成已知角度。

2.如权利要求1所述的装置,其中所述测量部件包括:

掩模,其中,被允许从所述掩模穿过的离子束的量依赖于所述掩 模与所述离子束之间的相对方位而变化;以及

放置在该掩模后面的离子敏感部分,从所述掩模穿过后离子束冲 击在所述离子敏感部分上。

3.如权利要求2所述的装置,其中所述掩模包括:

由相应槽分开的多个尖叉,其中,被允许从所述槽穿过的离子束 的量依赖于该尖叉与所述离子束之间的相对方位而变化。

4.如权利要求2所述的装置,其中所述离子束是水平带或是扫 描带状波束,其中该装置用来测量所述带的垂直弯曲角度。

5.如权利要求4所述的装置,其特征在于以下至少其中之一:

所述槽将所述尖叉分开在1毫米到10毫米之间,以及

所述尖叉具有5毫米到50毫米之间的长度。

6.如权利要求4所述的装置,其特征在于以下至少其中之一:

所述装置便于基于所述测量部件相对于所述工件的已知关系,将 所述工件相对于水平轴倾斜,以建立所述工件相对于垂直弯曲的带状 离子束的希望方位,

所述装置便于将所述工件绕着在其中心的与该工件表面垂直的 轴扭转,以另外建立所述工件相对于所述垂直弯曲的带状离子束的希 望方位,以及

所述装置便于基于所述测量部件相对于所述工件的已知关系,调 整该带状束的垂直弯曲角度,以建立所述工件相对于所述离子束的希 望方位。

7.如权利要求5所述的装置,其特征在于以下至少其中之一:

所述装置便于基于所述测量部件相对于所述工件的已知关系,将 所述工件相对于水平轴倾斜,以建立所述工件相对于所述垂直弯曲的 带状离子束的希望方位,

所述装置便于将所述工件绕着在其中心的与该工件表面垂直的 轴扭转,以另外建立所述工件相对于所述垂直弯曲的带状离子束的希 望方位,以及

所述装置便于基于所述测量部件相对于所述工件的已知关系,调 整所述带状束的垂直弯曲角度,以建立所述工件相对于所述离子束的 希望方位。

8.一种离子植入系统,包括:

用来产生离子的离子源;

用来从所述离子中产生离子束并且沿着行进路径导引所述离子 的束线组件,所述离子由所述离子源产生;

用来将工件相对于所述行进路径定位的终端站,使得在所述离子 束中行进的离子在选定位置上撞击所述工件;以及

测量部件,其刚性附着于在植入期间所述工件存在于其上的、所 述终端站的部件,使得所述测量部件的表面或者与其垂直的方向相对 于所述工件的表面成已知角度,其中,当所述终端站部件移动时所述 离子束冲击在所述测量部件上。

9.如权利要求8所述的系统,其中所述测量部件测量在其上冲击 的离子束强度作为所述离子束相对于所述测量部件的方位的函数,使 得所述测量部件与所述离子束之间的特定方位能够通过相对于所述 离子束移动所述测量部件而建立。

10.如权利要求9所述的系统,其中所述测量部件以相对于所述 工件的已知关系定向,使得由此可以建立所述工件及离子束之间的相 对方位。

11.如权利要求10所述的系统,其中所述测量部件是固定地与终 端站的部件相关联,其中所述工件与该终端站是可操作地相关联。

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