[发明专利]用于集成器件的衬底级组件、其制造工艺及相关集成器件有效

专利信息
申请号: 200680046903.7 申请日: 2006-07-14
公开(公告)号: CN101331080A 公开(公告)日: 2008-12-24
发明(设计)人: C·康比;B·维格纳;F·G·齐格利奥利;L·巴尔多;M·马古格利亚尼;E·拉萨兰德拉;C·里瓦 申请(专利权)人: 意法半导体股份有限公司
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;B81B7/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;张志醒
地址: 意大利*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 用于 集成 器件 衬底 组件 制造 工艺 相关
【说明书】:

技术领域

本发明涉及集成器件,尤其是传感器件的衬底级组件(通常称为“晶 片级封装”),涉及相应的制造工艺和相关集成器件。

背景技术

公知利用微制造技术制造半导体传感器(例如压力传感器、惯性传 感器、麦克风或气体传感器),半导体传感器的工作是基于悬置在腔上 的膜的存在的。

具体而言,以本申请人名义提交的EP 1577656公开了一种压力传 感器及其制造工艺。详细地讲(图1),由1表示的压力传感器被集成 到半导体材料制造的具有顶面2a的衬底2中,半导体材料尤其是单晶 硅。在衬底2之内形成埋藏腔3,并由柔性可变形膜4将其与顶面2a隔 开,该膜4悬置于埋藏腔3上方(具体而言,“埋藏腔”一词在此表示形 成于半导体材料单个主体之内、与其顶面相距一定距离的腔)。在这种 情况下,埋藏腔3还被隔离开并整个包含于衬底2之内。换能元件5, 即由扩散或注入掺杂剂原子而形成的压敏电阻器被设置于膜4中,其探 测膜4(由于外加电压导致)的形变,并产生作为要探测的压力的函数 的对应电信号。简言之,压力传感器1的制造工艺包括:在衬底2之内 形成多个深沟槽,由半导体材料制成的分隔壁将所述多个深沟槽彼此隔 开;然后在脱氧环境中执行外延生长以形成外延层,该外延层在顶部闭 合这些深沟槽;以及最后执行热退火步骤以形成埋藏腔3。在埋藏腔3 上方保留薄硅层,该薄硅层部分地由外延生长的硅原子构成,部分地由 迁移的硅原子构成;该硅层形成膜4。

2005年1月25日以本申请人名义提交的专利申请EP 05425028.7 描述了一种压电电阻加速度计和相应的制造工艺。详细而言(图2), 由10表示的压电电阻加速度计具有基本类似于上述压力传感器1的结 构,因此用相同附图标记表示类似的部分,此外,该压电电阻加速度计 具有形成于膜4上,具体而言形成于膜4的大致几何中心处的惯性质量 11。该惯性质量11由例如银、锡、铜、铅、金或其他高密度金属的焊 接膏构成,所述高密度金属优选地具有高于7000kg/m3的密度。例如, 该惯性质量11包括柱形基部和半球形顶部,具有100μm和200μm之间 的半径和50μm和350μm之间的厚度(假定膜4的边大约为500μm,惯 性质量11的半径和膜4的边之间的比例在20%和40%之间)。

通过金属网淀积该惯性质量11,该金属网例如由镍或钢制成,在对 应于要淀积焊接膏的区域的位置具有适当的开口。此外,所述淀积伴随 有温度升高步骤,在该步骤期间,惯性质量11粘附到膜4的顶面,冷 却之后形成期望的形状。

将惯性质量11的重心G置于膜4之外,使得在使用期间作用于加 速度计10的加速度决定惯性质量11上的动量,这导致其沿相应方向倾 斜。惯性质量11的位移导致膜4的形变和压电电阻元件5的电阻率变 化,据此适当的探测电路确定作用于加速度计10上的加速度量。

前述专利申请No.EP 05425028.7进一步披露了(图3)在同一半导 体材料的衬底2的分开且不同的表面部分中的上述压力传感器1和加速 度计10的集成,特别是为了获得压力监测系统15,例如用于监测车辆 轮胎的充气压力的所谓轮胎压力监测系统(TPMS)。在使用时,将压 力监测系统15安装在轮胎的内表面上,压力传感器1测量其充气状态, 而加速度计10通过向压力传感器1提供测量开始信号并向耦合到其上 的电子电路提供数据收集信号来执行唤醒功能。特别地,加速度计10 探测轮胎在旋转期间的离心加速度。强度大于预设阈值的加速度代表车 辆运动的状态,因此导致压力监测的开始,从而将监测限制到测量运动 的时间间隔中。

此外,MEMS麦克风传感器是已知的,图4中示出了其实例。同样 将16表示的麦克风传感器集成到由半导体材料制成的、具有顶面2a的 衬底2中,该传感器包括形成于衬底2中并由悬置于埋藏腔3上方的膜 4与顶面2a隔开的埋藏腔3。膜4是固定的,具有多个孔(未示出), 允许空气从外界环境通过孔进入埋藏腔3中。柔性且会因气压而运动的 传感器隔片17将埋藏腔3与形成于衬底2背部的后室18隔开。膜4和 传感器隔片17形成感测电容器的两个相对极板,该感测电容器的电容 随着它们的相对距离的变化而变化。在使用时,传感器隔片17因为抵 达埋藏腔3的声波而发生形变,从而导致感测电容器的电容值发生相应 变化。

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