[发明专利]光盘装置、串扰校正方法和集成电路

权利要求书

1.一种光盘装置，在具有由岸台和沟槽构成的轨道的光盘进行信息的 记录再生，所述光盘装置具有：

聚焦误差检测部，其从在所述光盘聚光的点的反射光中检测聚焦误差 信号，并输出所述聚焦误差信号；

跟踪误差检测部，其从所述反射光中检测跟踪误差信号，并输出所述 跟踪误差信号；

光学串扰校正量决定部，其在所述点跨越所述轨道时，根据在来自所 述光盘的反射光中产生的从所述跟踪误差信号泄漏到所述聚焦误差信号 的信号成分的微分值，决定用于校正所述跟踪误差检测部的输出的校正 量；

乘法器，其将所述跟踪误差检测部的输出和所述光学串扰校正量决定 部所决定的所述校正量相乘；

加法器，其将所述聚焦误差检测部的输出和所述乘法器的输出相加；

聚焦控制部，其根据所述加法器的输出对所述点的聚焦进行控制；和

跟踪控制部，其根据所述跟踪误差检测部的输出进行跟踪控制。

2.一种光盘装置，在具有由岸台和沟槽构成的轨道的光盘进行信息的 记录再生，所述光盘装置具有：

聚焦误差检测部，其从在所述光盘聚光的点的反射光中检测聚焦误差 信号，并输出所述聚焦误差信号；

跟踪误差检测部，其从所述反射光中检测跟踪误差信号，并输出所述 跟踪误差信号；

光学串扰校正量决定部，其在所述点跨越所述轨道时，根据在来自所 述光盘的反射光中产生的从所述跟踪误差信号泄露到所述聚焦误差信号 的信号成分，决定用于校正所述跟踪误差检测部的输出的校正量；

乘法器，其将所述跟踪误差检测部的输出和所述光学串扰校正量决定 部所决定的所述校正量相乘；

加法器，其将所述聚焦误差检测部的输出和所述乘法器的输出相加；

聚焦控制部，其根据所述加法器的输出对所述点的聚焦进行控制；和

跟踪控制部，其根据所述跟踪误差检测部的输出进行跟踪控制，

所述光学串扰校正量决定部在执行所述点的聚焦控制而不执行所述 点的跟踪控制的情况下，根据从所述跟踪误差信号泄漏到所述聚焦误差信 号的信号成分的振幅值，决定用于校正所述跟踪误差检测部的输出的所述 校正量的粗略校正量；在执行所述点的聚焦控制并执行所述点的跟踪控制 的情况下，根据从所述跟踪误差信号泄漏到所述聚焦误差信号的信号成分 的微分值，决定用于校正所述跟踪误差检测部的输出的所述校正量的精确 校正量。

3.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，

还具有对所述跟踪控制部的输出附加扰动信号的扰动附加部；

所述扰动附加部，在执行所述跟踪控制的情况下，附加具有所述跟踪 控制和所述聚焦控制的频带外的频率和振幅的扰动信号；

所述光学串扰校正量决定部根据因附加所述扰动信号而产生的、从所 述跟踪误差信号泄漏到所述聚焦误差信号的信号成分，决定用于校正所述 跟踪误差检测部的输出的所述校正量的所述精确校正量。

4.根据权利要求1～3中任意一项所述的光盘装置，其特征在于，

还具有跟踪极性决定部，其将进行跟踪控制的对象决定为所述轨道的 所述岸台和所述沟槽的某一方；

所述光学串扰校正量决定部根据所述跟踪极性决定部的输出，设定所 述校正量。

5.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于，

所述光学串扰校正量决定部在所述岸台和所述沟槽的至少任意一方 中，求取所述校正量。

6.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于，

所述光学串扰校正量决定部根据所述岸台的所述校正量，决定所述沟 槽的所述校正量。

7.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于，

所述光学串扰校正量决定部根据所述沟槽的所述校正量，决定所述岸 台的所述校正量。