[发明专利]密封状态检查装置和密封状态检查方法有效
申请号: | 200680048160.7 | 申请日: | 2006-12-14 |
公开(公告)号: | CN101341400A | 公开(公告)日: | 2009-01-07 |
发明(设计)人: | 木下滋弘 | 申请(专利权)人: | 利乐拉瓦尔集团及财务有限公司 |
主分类号: | G01N27/92 | 分类号: | G01N27/92;G01M3/16 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;刘宗杰 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 密封 状态 检查 装置 方法 | ||
1.一种密封状态检查装置,所述装置检查配置在具有热塑性材料最外层、 纸制衬底层、导电阻挡层和可热封的最内层的叠层包装材料上的开口,通过部 分切割至少所述热塑性材料最外层和纸制衬底层来制备所述开口,还以容易打 开的状态密封所述开口,其中在所述开口的外侧和内侧分别提供接地电极和探 针电极;经所述导电阻挡层检测所述探针电极和接地电极之间的电流流动;以 及用测定单元检查所述开口的密封状态。
2.根据权利要求1所述的密封状态检查装置,其中
所述开口形成有配置在叠层包装材料上的通孔,并且从外侧用阻挡拉环和 从内侧用补片膜密封包括所述通孔外周部分的区域;
所述探针电极具有一直覆盖到所述通孔外周部分的形式并从内侧配置在所 述补片膜上;
提供所述接地电极,使得能够对网状叠层包装材料的至少一个端面上的导 电阻挡层实施检测;以及
所述测定单元经所述补片膜检测所述探针电极和所述通孔端面上的导电阻 挡层之间的导电性,从而确定密封状态是否有缺陷。
3.根据权利要求1所述的密封状态检查装置,其中
所述开口形成有配置在所述纸制衬底层上的通孔,并且通过叠层所述热塑 性材料最外层、导电阻挡层和可热封的最内层密封包括所述通孔的区域;
所述探针电极具有覆盖所述通孔至少外周部分的形式并从内侧配置在所述 可热封的最内层上;
所述接地电极具有一直覆盖到所述通孔外周部分的形式并从外侧配置在所 述热塑性材料最外层上;以及
所述测定单元通过所述通孔内穿过所述热塑性材料最外层、导电阻挡层和 可热封的最内层的空隙,检测导电性,从而确定密封状态是否有缺陷。
4.根据权利要求1所述的密封状态检查装置,其中
配置在容器顶部的所述开口形成有配置在所述纸制衬底层上的通孔,并且 通过叠层所述热塑性材料最外层、导电阻挡层和可热封的最内层密封包括所述 通孔的区域;
所述探针电极具有覆盖所述通孔至少外周部分的形式并从外侧配置在所述 热塑性材料最外层上;
提供所述接地电极,使得能够对在所述容器上形成的叠层包装材料的至少 一个端面处的导电阻挡层实施检测;以及
所述测定单元通过所述通孔内穿过所述热塑性材料最外层、导电阻挡层和 可热封的最内层的空隙,经所述导电阻挡层检测导电性,从而确定密封状态是 否有缺陷。
5.一种检查配置在具有热塑性材料最外层、纸制衬底层、导电阻挡层和 可热封的最内层的叠层包装材料上的开口的方法,通过部分切割至少所述热塑 性材料最外层和纸制衬底层来制备所述开口,并且还以容易打开的状态密封所 述开口,其中
在所述开口的外侧和内侧分别提供接地电极和探针电极;
在所述探针电极和接地电极之间加载高压,并经所述导电阻挡层检测所述 探针电极和接地电极之间的电流流动;以及
用测定单元检查所述开口的密封状态。
6.根据权利要求5所述的密封状态检查方法,其中所述开口形成有配置 在叠层包装材料上的通孔,并且从外侧用阻挡拉环和从内侧用补片膜密封包括 所述通孔外周部分的区域;
所述探针电极具有一直覆盖到所述通孔外周部分的形式并从内侧配置在所 述补片膜上;
提供所述接地电极,使得能够对所述网状叠层包装材料的至少一个端面上 的导电阻挡层实施检测;以及
所述测定单元经所述补片膜检测所述探针电极和所述通孔端面上的导电阻 挡层之间的导电性,从而确定密封状态是否有缺陷。
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