[发明专利]使用可见光传感器的UV辐射仪

权利要求书

1.一种用于量化辐照度的方法，包括：

感测第一辐射频带内的辐照度；

滤波在第一辐射频带内的辐照度，其中所述滤波是第二辐射频带内 的辐照度的函数；

感测所述经滤波的辐照度；

通过合并所述所感测的辐照度与所述所感测的经滤波的辐照度，来 计算在所述第二辐射频带内的辐照度。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二辐射频带处于紫外 辐射频带内。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述第一辐射频带处于可见 光辐射频带内。

4.根据权利要求1所述的方法，其中通过第一传感器感测在所述 第一辐射频带内的辐照度，以及通过第二传感器感测所述经滤波的辐照 度。

5.根据权利要求4所述的方法，其中感测所述第一辐射频带内的 辐照度和感测经滤波的辐照度基本上是并发的。

6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括在存储器中存储经计 算的所述第二频带内的辐照度，将所述存储的经计算的辐照度与存储的 阈值相比较，并在执行所述方法的设备上提供用户可察觉的输出。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述设备包括移动台。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二辐射频带内的辐照 度的所述函数是非线性的。

9.一种设备，包括：

第一传感器，具有用于提供在第一辐射频带内的辐照度的参考信号 的输出；

在光学上串联的滤波器和第二传感器，所述第二传感器具有用于提 供在所述第一辐射频带内的辐照度的经滤波的信号的输出，其中所述滤 波器操作以在所述第一辐射频带中按照在所述第二辐射频带中的辐照 度的函数来滤波辐照度；以及

处理器，所述处理器具有耦合到所述第一和第二传感器的所述输出 的输入，用于从所述参考信号和所述经滤波的信号确定在所述第二辐射 频带中的辐照度。

10.根据权利要求9所述的设备，其中所述第二辐射频带处于紫外 辐射频带内。

11.根据权利要求10所述的设备，其中所述第一辐射频带处于可见 光辐射频带内。

12.根据权利要求10所述的设备，其中配置所述第一传感器和第 二传感器来提供参考信号和经滤波的信号的各自的同时输出。

13.根据权利要求10所述的设备，进一步包括耦合到所述处理器 的存储介质，用于存储所述经确定的辐照度。

14.根据权利要求13所述的设备，进一步包括图形显示屏和扬声 器之一，用于基于所述所确定的辐照度的所述值来向用户提供所述确定 的辐照度的指示。

15.根据权利要求10所述的设备，其中在所述第二辐射频带中的 辐照度的滤波函数是非线性函数。

16.根据权利要求9所述的设备，其实现于移动台内。

17.一种设备，包括：

用于测量第一辐射频带中的辐照度的装置；

用于根据在第二辐射频带中的辐照度的函数而在所述第一辐射频 带中滤波辐照度的装置；以及

用于通过比较利用和不利用所述滤波装置在所述第一频带中测量 的辐照度而解析在所述第二频带中的辐照度的装置。

18.根据权利要求17所述的设备，其中所述用于测量辐照度的装 置包括可见光传感器，以及所述用于滤波的装置包括光敏滤波器，所述 光敏滤波器对可见光的透明度根据在所述紫外线频带中的辐照度的函 数而改变。