[发明专利]三维绝对坐标表面成像的方法和装置

权利要求书

1.一种确定物体的三维表面的绝对坐标的方法，所述方法包括：

将均匀光照图和两个经相移的光照图分别投影到所述物体的表面上， 每一种光照图编码一标记；

捕捉来自所述物体的表面的光照图的反射图像；

组合所捕捉的图像来生成包裹相位图像；

通过对所述包裹相位图像进行解包裹生成相对解包裹相位图像；多层 次的质量制导算法可用于相位解包裹；第一，用差额或梯度图的方法计算 包裹相位图像的质量图；质量图分为多个质量水平；然后，相位解包裹从 更高质量级别的数据点的层级开始，然后处理质量较低级别的数据点；在 每个层面上，应用一个快速扫描线的相位解包裹的方法；

从所述相对解包裹相位图像生成绝对相位图像；以及

根据绝对相位图像确定所述物体的表面的绝对坐标；

相位解包裹包括：

生成一质量分析图；

将所述质量分析图划分成多个质量级别；以及

以质量递降的顺序，分别对每个质量级别应用相位解包裹算法；

其中，捕捉所述光照图的反射图像包括以黑白模式或彩色模式捕捉所 述图像；通过使用均匀光照图的从物体表面反射的图像，在确定物体表面 的绝对坐标的同时，可捕捉到物体表面的黑白纹理；

或者，均匀光照图是彩色编码的，当均匀光照图被投影时，通过使用 以彩色模式捕捉的均匀光照图的从物体表面反射的图像，在确定物体表面 的绝对坐标的同时，可捕捉到物体表面的彩色纹理；

捕捉物体的彩色或者黑白纹理包括从均匀光照图的所捕捉图像删除经 编码标记。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，生成所述质量分析图包括 生成所述包裹相位图像的梯度图。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，生成所述质量分析图包括 生成所述包裹相位图的方差图。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于，所述相位解包裹算法是一 种快速行扫描相位解包裹算法。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述两个经相移光照图之 间相隔约90度相移。

6.如权利要求1或如权利要求5所述的方法，其特征在于，生成所述 两个相移光照图包括仅生成两个相移光照图。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述相对解包裹相位图 像生成所述绝对相位图像包括检测所编码标记的相位，并根据所检测到的 经编码标记的相位来调节所述相对解包裹相位图像。