[发明专利]用于检测工件几何形状的系统和方法有效

专利信息
申请号: 200680050880.7 申请日: 2006-12-06
公开(公告)号: CN101356417A 公开(公告)日: 2009-01-28
发明(设计)人: 德克·扬 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/24;G05B19/4097
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张亮
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 工件 几何 形状 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种系统,所述系统用于确定一个工件(1)因一个加工步骤而产生的几何形状变化,其包括:

一个可转动的工件平台(7),所述工件(1)可定位于所述工件平台(7)上,

至少一个摄像机(2),所述摄像机用于在所述加工步骤开始之前为所述工件(1)摄制多个图像,所述摄像机(2)为所述工件(1)摄制不同的图像,所述工件平台(7)在这些图像之间进行依次转动,以便所述摄像机(2)可以从新的视角检测组件,

一个用于存储标称几何值的存储区,这些标称几何值是所述加工步骤结束后所述工件(1)应该具有的几何值,

确定构件,该确定构件用于根据所述至少一个图像确定工件几何值,这些工件几何值是所述加工步骤开始之前所述工件(1)具有的几何值,

计算构件,该计算构件用于计算用以描述所述工件几何值与所述标称几何值之差的几何差值(3)。

2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述计算构件用于形式为至少一个加工余量的几何差值(3),所述加工余量将在所述加工步骤中被切除以获得所述工件(1)的所述标称几何值。

3.根据权利要求1或2所述的系统,其中,所述系统具有匹配构件,该匹配构件用于根据所述几何差值(3)对一个用于控制所述工件(1)的加工过程的加工程序(4)进行匹配。

4.根据权利要求1所述的系统,其中,所述存储区用于存储一个与所述标称几何值相应的标称几何模型(5),所述标称几何模型描述的是所述加工步骤结束后的所述工件(1)。

5.根据权利要求4所述的系统,其中,所述系统具有用于生成所述标称几何模型(5)的模型生成构件。

6.根据权利要求4或5中任一项权利要求所述的系统,其中,所述确定构件用于以一个工件几何模型(6)的形式确定所述工件几何值。

7.根据权利要求6所述的系统,其中,所述计算构件用于根据所述标称几何模型(5)和所述工件几何模型(6)计算所述几何差值(3)。

8.根据权利要求1所述的系统,其中,所述确定构件通过从所述图像中提取所述工件(1)的棱边来确定所述工件几何值。

9.根据权利要求1所述的系统,其中,所述系统具有选择构件,该选择构件用于在所述几何差值(3)的基础上选出一种适用于所述加工步骤的机床刀具。

10.一种用于对一个工件(1)进行加工的机床,其中,所述机床具有一种根据权利要求1至9中任一项权利要求所述的系统。

11.一种方法,所述方法用于确定一个工件(1)因一个加工步骤而产生的几何形状变化,其包括以下处理步骤:

设置一个可转动的工件平台(7),所述工件(1)定位于所述工件平台(7)上,

在所述加工步骤开始之前借助至少一个摄像机(2)为所述工件(1)摄制多个图像,所述摄像机(2)为所述工件(1)摄制不同的图像,所述工件平台(7)在这些图像之间进行依次转动,以便所述摄像机(2)可以从新的视角检测组件,

根据所述至少一个图像确定工件几何值,这些工件几何值是所述加工步骤开始之前所述工件(1)具有的几何值,

计算用以描述所述工件几何值与标称几何值之差的几何差值(3),这些标称几何值是所述加工步骤结束后所述工件(1)应该具有的几何值。

12.根据权利要求11所述的方法,其中,计算形式为至少一个加工余量的所述几何差值(3),所述加工余量将在所述加工步骤中被从所述工件(1)上切除以获得所述标称几何值。

13.根据权利要求11或12所述的方法,其中,根据所述几何差值(3)对一个用于控制所述工件(1)的加工过程的加工程序(4)进行匹配。

14.根据权利要求11所述的方法,其中,将一个与所述标称几何值相应的标称几何模型(5)存储在一个存储区内,所述标称几何模型描述的是所述加工步骤结束后的所述工件(1)。

15.根据权利要求14所述的方法,其中,生成所述标称几何模型(5)。

16.根据权利要求14或15所述的方法,其中,以一个工件几何模型(6)的形式确定所述工件几何值。

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