[发明专利]刻画玻璃带特性的方法和装置有效
申请号: | 200680051769.X | 申请日: | 2006-12-14 |
公开(公告)号: | CN101336366A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | K·L·豪斯;L·K·克林史密斯;M·Y·西本;P·J·威索罗斯基 | 申请(专利权)人: | 康宁股份有限公司 |
主分类号: | G01K1/00 | 分类号: | G01K1/00;G01K13/12 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 刻画 玻璃 特性 方法 装置 | ||
1.一种用于刻画向下拉制工艺形成的玻璃带特性的装置,包括:
包括一对竖直形成表面部分和一对向下倾斜的会聚表面部分的形成本体, 所述会聚表面部分在根部终止,其中熔融态玻璃流在所述竖直形成表面部分和 所述会聚表面部分上为独立的流并且在所述根部汇合以形成玻璃带;
外壳,它被设置成至少围绕着所述玻璃带的粘滞性和粘弹性区域,所述外 壳包括与所述玻璃带相对的开口;
测量组件,在所述开口将所述测量组件安装到所述外壳,所述测量组件包 括遮蔽物和用于测量玻璃带的至少一个属性的至少一个测量设备,其中所述至 少一个测量设备包括红外成像系统,所述红外成像系统适用于通过对穿过开口 的玻璃带的宽度进行扫描以及对玻璃带经扫描宽度上的红外辐射进行检测来 测量所述玻璃带的温度。
2.如权利要求1所述的装置,还包括用于测量带的位移的第二测量设备。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测量组件适用于同时测 量多个带属性。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测量组件检测被投射到 玻璃带表面上的有图案的光。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括设置在所述玻璃带和 所述测量组件之间的温度受控的快门。
6.一种刻画玻璃带特性的方法,包括:
通过向下拉制方法形成流动玻璃带,围绕所述带设置有外壳;
通过安装到所述外壳的测量组件对所述带的宽度的至少一部分进行扫描 以至少测量所述带的温度,所述扫描包括检测来自所述带通过所述外壳内的开 口的4.8μm到14μm的波长范围内的红外辐射,所述开口由能够在开启位 置和关闭位置之间操作的快门保护;以及
调节所述快门的温度以在所述快门处于关闭位置时仿效测量组件的热质 量并且在所述快门从所述关闭位置移至开启位置时保持所述外壳内的温度稳 定。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,还通过检测投射到所述带上 的有图案的光来测量所述带的位移。
8.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述快门包括通道并且所述 快门的温度由流经所述通道的水来调节。
9.如权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括倾斜所述测量组件以 测量在多个竖直位置处的所述带宽度上的温度。
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