[发明专利]薄片制造方法及薄片制造装置有效
申请号: | 200680052061.6 | 申请日: | 2006-11-30 |
公开(公告)号: | CN101365571A | 公开(公告)日: | 2009-02-11 |
发明(设计)人: | 寺尾次郎 | 申请(专利权)人: | 东丽株式会社 |
主分类号: | B29C47/16 | 分类号: | B29C47/16;B29C47/92;B29L7/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 何欣亭;刘宗杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 薄片 制造 方法 装置 | ||
1.一种薄片制造方法,包括如下(1)~(5)的步骤:
(1)用设有多个厚度调整部件的拉伸模,以薄片状挤出薄片材料;
(2)通过实施伴随有薄片宽度方向的尺寸变化的预定加工即在薄片制造中的任何加工工序中薄片材料的流动在薄片宽度方向也有分量的加工,形成所要求的薄片;
(3)测定所述预定加工结束前及结束后的该薄片的宽度方向厚度分布;
(4)按照所述加工结束后的所述薄片的宽度方向厚度分布的测定值,计算加入与各测定位置对应的所述厚度调整部件的操作量;以及
(5)用该操作量操作所述厚度调整部件,从而控制薄片厚度,
在计算所述步骤(4)的所述操作量时,用如下步骤A,B的方法确定对于所述厚度调整部件的所述加工结束后的薄片宽度方向对应位置,并根据所确定的所述薄片宽度方向对应位置进行厚度控制,
A.使包含表示所述加工结束前的薄片宽度方向位置与所述加工结束后的宽度方向位置的对应关系并含有1个以上未知参数的映射函数、所述加工结束前的薄片宽度方向厚度分布的测定值以及所述加工结束后的厚度分布的测定值的评价函数成为极值,求出所述未知参数;
B.根据这样求出的所述未知参数确定所述映射函数,从而根据所确定的该映射函数,确定对于所述厚度调整部件的所述加工结束后的薄片宽度方向对应位置。
2.如权利要求1中记载的薄片制造方法,其中:
作为所述评价函数,使用对应于每单位时间通过所述加工结束前的薄片宽度方向各部分的所述薄片材料的质量与每单位时间通过所述加工结束后的薄片宽度方向各部分的薄片质量之差的总和的评价函数。
3.如权利要求1记载的薄片制造方法,其中:
作为所述评价函数,使用下式<1>或在数学上与之等效的公式,使所述评价函数取极小或极大而确定未知参数,
公式1
这里,
E:表示映射函数的误差的评价函数,
xf:所述加工结束后的薄片宽度方向位置,
Tf(xf):所述加工结束后的薄片宽度方向位置xf处的薄片厚度,
xs:所述加工结束前的薄片宽度方向位置,
Ts(xs):所述加工结束前的薄片宽度方向位置xs处的薄片厚度,
θ:映射函数g(xf、θ)所含有的要素数为1以上的参数矢量,
g(xf、θ):映射函数,是用加工结束后的薄片的宽度方向位置xf的函数和参数θ表示加工结束前的薄片的宽度方向位置xs的模型化后的函数式,
vf:所述加工结束后的薄片的流动方向速度,
vs:所述加工结束前的薄片的流动方向速度,
Df:所述加工结束后的薄片密度,
Ds:所述加工结束前的薄片密度,
xf0:在计算映射函数的误差时,作为始点的所述加工结束后的薄片宽度方向位置,
xf1:在计算映射函数的误差时,作为终点的所述加工结束后的薄片宽度方向位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东丽株式会社,未经东丽株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680052061.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于磁共振成像的靶向性纳米粒子
- 下一篇:檐槽组件