[发明专利]基于荧光的检测方法和设备

权利要求书

1.一种用在荧光谐振能量转移测定中检测来自试样的荧光辐射 的发射的设备，所述荧光辐射的发射响应于辐射源的激发，所述试样 含有至少两个不同的探针，每个探针包括供体/受体对，

所述设备包括：

i)试样辐照器，所述试样辐照器用于在相同的时间段用来自至少 两个源的激发辐射照射所述试样，所述至少两个源提供不同波长的激 发辐射；

ii)调制装置，所述调制装置用于根据各自不同的调制方式调制 所述至少两个源中的每一个的激发辐射；以及

iii)发射检测器，所述发射检测器用于检测来自所述试样的荧光 辐射的发射，

其中，对所述至少两个源中的每一个的激发辐射的波长进行选 择，以激发来自所述试样中的各自不同的探针的响应，以及所述发射 检测器适合于检测所发射的辐射的各自不同的调制方式中的每一个， 以使能够单独检测所述至少两个不同探针对所述至少两个源的响应。

2.如权利要求1所述的设备，其中，所述发射检测器适合于检测 以第一波长的荧光辐射的发射和以第二波长的荧光辐射的发射，从而 能够单独检测所述至少两个不同探针的至少四个不同的响应，在每种 情形中，通过调制方式和/或通过波长区别所述响应。

3.如权利要求2所述的设备，其中，所述至少四个不同的响应包 括在所述试样中的至少四个不同探针的响应。

4.如权利要求2所述的设备，其中，所述试样辐照器适合于在相 同的时间段用来自两个以上源的激发辐射照射所述试样，且所述调制 装置适合于根据各自不同的调制方式对所述源中的每一个的激发辐 射进行调制，从而能够单独检测所述至少两个不同探针的至少六个不 同的响应，在每种情形中，通过调制方式和/或通过波长区别所述响应。

5.如权利要求1-3中的任一项所述的设备，其中，所述试样辐 照器包括至少一个辐射偏转器，所述至少一个辐射偏转器用于将由所 述源中的至少一个所提供的激发辐射偏转到与所述源中的至少另一 个所提供的激发辐射共用的路径上，以输送到所述试样。

6.如权利要求1-3中的任一项所述的设备，其中，所述发射检 测器包括用于过滤来自所述试样的荧光辐射的发射的滤波器，辐射显 示所述各自不同的调制方式中的至少两个，在所述设备的使用时经由 所述滤波器在相同的时间段检测所述调制方式。

7.一种用于监测在核酸扩增反应过程中从试样发射的以响应通 过辐射源激发的荧光辐射的设备，所述设备包括：

i)试样辐照器，所述试样辐照器用来自源的激发辐射照射所述试 样；

ii)调制装置，所述调制装置用于根据可检测的调制方式调制所 述激发辐射；以及

iii)发射检测器，所述发射检测器用于检测来自所述试样的荧光 辐射的发射，

其中，所述发射检测器适合于检测所发射的辐射中的所述调制方 式，以使能够在至所述发射检测器的一个或多个其它辐射输入出现时 检测所述试样对所述源的响应，所述响应由报告系统在使用荧光谐振 能量转移的过程中生成，所述报告系统包括复数个供体/受体对。

8.如权利要求7所述的设备，其中，所述试样辐照器适合于用来 自至少两个不同源的激发辐射照射所述试样，以及所述发射检测器适 合于检测所述试样的两个或更多的不同响应，每个响应由所述报告系 统的不同探针生成，且每个探针包括供体/受体对。

9.如权利要求7-8中的任一项所述的设备，其中，所述调制装 置适合于调制至少一个所述源的激发辐射的强度，以给出用于所述源 的调制方式。

10.如权利要求7-8中的任一项所述的设备，其中，由至少一个 所述源发射的激发辐射包括脉冲列，所述调制装置适合于调制所述脉 冲列，以给出用于所述源的调制方式。

11.如权利要求10所述的设备，其中，所述调制装置适合于调制 所述脉冲列的脉冲宽度，以给出所述调制方式。