[发明专利]采样装置

说明书

技术领域

无

背景技术

痕量检测具有各种重要应用，例如，在运输中心对个人和行李的检查、设施安全、军事应用、法庭应用和清洁确认。

现代检测设备可检测毫微克到微微克范围的目标化合物，但有效的检测需要获得合适的样品。已知各种采样方法且其主要涉及蒸气和颗粒采样。例如，美国专利第4,909,090号教授加热表面以帮助驱逐被捕集在探针中的收集器表面上的蒸气的手操作蒸气采样器的使用。然而，由于某些目标化合物具有低蒸气压力，因此此方法的使用可多少受到限制。

还已知颗粒收集方法。颗粒收集技术包含通过物理颗粒收集表面检查微量颗粒，使用灰尘盘-刷布置，真空抽吸到多孔或半多孔衬底、过滤器、薄膜和类似物上以及使用拭抹物、杆、手套等。美国第3,970,428、4,220,414、4,192,176和5,425,263号专利涉及用于法庭和表面地球化学勘探的颗粒收集方法，其中可将痕量金属和有机金属用作矿物勘探活动中的指引指示符。美国第5,476,794号专利描述用手套和使用涉及真空抽吸所述手套的中间步骤来收集样品颗粒。

用于收集痕量颗粒的另一方法涉及将滤盘插入真空吸尘器单元的抽吸线路中以通过抽吸移除用于分析的颗粒。在收集充足量的灰尘/材料之后，移除滤盘或衬底并将其呈给分析装置。将滤盘插入被快速加热以使所收集材料挥发的热解吸装置中。加热过程将痕量颗粒转换成蒸气以用于常规化学蒸气分析，例如，IMS、质谱仪或气相色谱法或此类其它仪器。此方法遭受真空吸尘器污染的缺点且需要操纵笨重的真空吸尘器来获得样品。

已以各种方式使用呈手覆盖物形式(例如，手套、露指手套和杆)的收集媒介用于颗粒收集，但所述技术经常需要将收集在手套或类似物上的样品传送到分析装置的中间步骤。一个方法涉及将收集媒介暴露于抽吸装置以真空抽吸手套或露指手套，如在美国第5,476,794号专利中所描述。此方法耗费时间且真空传送效率低，从而导致由于从收集媒介的不完整传送所致的样品损失。另外，真空抽吸装置有噪音、笨重且需要电力来激励抽吸电机。即使小的真空采样装置也具有相对受限制的电池寿命。而且，抽吸装置可在传送含有在下次使用之前需要彻底清洁的目标化合物的样品期间被污染。最后，抽吸经常产生甚至更大的问题是：抽吸致使收集媒介纤维和毛绒被释放，从而可阻碍分析装置或当例如在使用离子迁移频谱仪时(其中因手覆盖材料所致的基质效应可在离子化过程中形成太具侵略的对抗)，呈现在分析过程中可能形成对抗的干扰化学品或软毛/毛绒。

美国第5,476,794号专利描述颗粒的收集，其中将颗粒从样品收集手套传送到收集探针，且将完成的探针插入分析器中以使样品汽化。此技术涉及复杂采样探针，其可容易地被来自采样手套的碎片和毛绒阻塞。

还已知手持且覆盖手指的常规采样衬底用于从表面收集颗粒，其中材料被直接插入分析装置中。所述材料具有避免中间传送步骤和使用抽吸装置的优点。然而，用手收集样品可导致样品的污染或由于采样衬底对被分析物件的不足压力所致的不完整收集。

而且，常规采样衬底经常依靠操作者来确保衬底材料的采样区域(或“拭抹物”)在分析器(或“分析装置”)内适当对准以便分析装置对衬底材料中含有样品的部分进行实际分析。例如，在IMS中，在样品解吸器上必须适当地对准所收集的样品以使IMS对所收集的样品进行解吸和分析。当衬底的样品区域在分析器内未适当对准时，所收集的样品不能完全解吸。因此，样品的测试结果可受衬底的样品区域在分析器内的对准程度的影响。

发明内容

因此，需要一种样品收集装置，所述样品收集装置能够在操作者的手不触摸所述采样衬底的条件下收集样品并将其传送到分析装置，且避免操作者在收集样品并将所收集的样品定位在分析装置中时发生错误。

因此，一个实施例提供用于将样品收集在衬底上以供在分析器中分析的采样装置，其包括本体和经布置以夹持所述衬底的采样头，其中所述采样装置经布置以便插入样品接收装置中以使得所述衬底在所述分析器中适当地对准来将所述样品最优地或大致最优地引入分析器中。

另一实施例提供收集样品的方法，其包括将衬底安装于手持采样装置中，所述手持采样装置包含本体和经布置以夹持所述衬底的采样头，其中所述采样装置经布置以便插入分析器中以使得所述衬底在所述分析器内适当地对准来从所述衬底最优地或大致最优地引入所述样品，操纵所述采样装置以使所述衬底接触所关注的表面，且将所述采样头插入用于所述样品的解吸和分析的所述分析器中。

应理解，上文的一般说明及下文的详细说明二者仅是实例性及阐释性，而非限制所主张的本发明。

附图说明