[发明专利]用于测量板料属性的分光传感器

权利要求书

1.一种用于测量平板产品(500)的多个特性的传感器(200)，所述传感器(200)包括：

用于向该平板产品(500)发射辐射的源；

串联设置的多个分束器(212，214，216，312)，用于在所述辐射与该平板产品(500)相互作用之后分割所述辐射；

多个带通滤波器(220，230，250，270，280，290，350)，用于对所述分割的辐射进行滤波；

多个单通道检测器(235，245，265，275，285，295，335)，其中每一个单通道检测器(235，245，265，275，285，295，335)被耦合到一个带通滤波器(220，230，250，270，280，290，350)；以及

至少一个光学分光计(210，310，320，330)，其中所述至少一个光学分光计使用从所述多个分束器中的一个或多个接收的所述分割的辐射测量该平板产品的所述多个特性中的一个或多个特性，并且每个耦合的通道检测器和带通滤波器使用从所述多个分束器中的一个或多个所接收的所述分割的辐射测量该平板产品的所述多个特性中的一个或多个特性，由每个耦合的通道检测器和带通滤波器测量的所述特性不同于由所述分光计测量的所述特性，其中所述至少一个光学分光计所使用的所述分割的辐射不同于每个耦合的通道检测器和带通滤波器所使用的所述分割的辐射。

2.权利要求1所述的传感器(200)，其中，所述源处在所述平板产品(500)的一侧，而所述分束器(212，214，216，312)、所述带通滤波器(220，230，250，270，280，290，350)和所述至少一个光学分光计(210，310，320，330)处在该平板产品(500)的另一侧。

3.权利要求1所述的传感器(200)，其中，所述源处在所述平板产品(500)的一侧，并且所述分束器(212，214，216，312)、所述带通滤波器(220，230，250，270，280，290，350)和所述光学分光计(210，310，320，330)处在该平板产品(500)的同一侧。

4.权利要求1所述的传感器(200)，还包括束调节光学装置(216，236，246，256，266，286，296，316，326，336)，其用于把所述辐射导向所述平板产品(500)。

5.权利要求1所述的传感器(200)，还包括一个或多个附加的束调节光学装置(216，236，246，256，266，286，296，316，326，336)，其用于把所述辐射导向所述带通滤波器(220，230，250，270，280，290，350)。

6.权利要求1所述的传感器(200)，其中，所述源发射来自UV到中IR区域的宽带光学辐射。

7.权利要求1所述的传感器(200)，其中，所述分光计(210，310，320，330)的光谱特性与所述多个单通道检测器(235，245，265，275，285，295，335)之一的光谱特性重叠。

8.权利要求1所述的传感器(200)，其中，所述分光计(210，310，320，330)的光谱特性与所有所述多个单通道检测器(235，245，265，275，285，295，335)的光谱特性不重叠。

9.权利要求1所述的传感器(200)，其中，所述分光计(210，310，320，330)具有以下情况的其中之一：处在可见光谱范围内、处在近红外光谱范围内、处在中红外光谱范围内、以及处在远红外光谱范围内。

10.一种用于测量平板产品(500)的多个特性的方法，所述方法包括：

向该平板产品(500)发射辐射；

在所述辐射与该平板产品(500)相互作用之后分割所述辐射，其中所述分割由串联设置的多个分束器(212，214，216，312)执行；

利用光学分光计(210，310，320，330)和多个带通滤波器(220，230，250，270，280，290，350)的其中之一对所述分割的辐射进行滤波，其中每一个带通滤波器(220，230，250，270，280，290，350)被耦合到通道检测器(235，245，265，275，285，295，335)，其中所述光学分光计使用所述经滤波的分割的辐射测量该平板产品的所述多个特性中的一个或多个特性，并且每个耦合的通道检测器和带通滤波器使用所述经滤波的分割的辐射测量该平板产品的所述多个特性中的一个或多个特性，由每个耦合的通道检测器和带通滤波器测量的所述特性不同于由所述分光计测量的所述特性，其中所述光学分光计所使用的所述经滤波的分割的辐射不同于每个耦合的通道检测器和带通滤波器所使用的所述经滤波的分割的辐射。