[发明专利]色谱仪质量分析装置

权利要求书

1.一种色谱仪质量分析装置，其是将利用色谱仪在时间方向上分离 的试料成分依次导入至质量分析部来执行质量分析的色谱仪质量分析装 置，其可以有选择地执行如下所述的测定，即：在所述质量分析部反复进 行在规定的质量数范围内的连续的质量扫描的扫描测定；对于特定的质量 数，将一个质量数维持一定时间，同时阶段性地切换质量数的SIM测定； 在扫描测定进行的质量扫描的中途执行SIM测定的扫描/SIM同时测定， 所述色谱仪质量分析装置的特征在于，具备：

a)显示控制机构，其在显示部的画面上显示预先制作的将化合物的种 类、该化合物的标准的保留时间及对该化合物赋予特征的质量数形成为一 览表的化合物表格；

b)选择机构，其用于使操作人从显示的所述化合物表格中选择欲执 行扫描/SIM同时测定的化合物；

c)测定条件表格制作机构，其将测定条件表格如下作成：对于由所述 选择机构选择的1至多个化合物的保留时间，在该保留时间的前后分别设 定规定的时间幅度并在该时间范围内进行扫描/SIM同时测定，在该时间范 围以外的时间范围内执行扫描测定或SIM测定。

2.根据权利要求1所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，

所述显示控制机构在显示有所述化合物表格及所述测定条件表格的 同一画面内显示总离子色谱，该总离子色谱是对于标准试料或以该标准试 料为标准的已知试料，使用扫描测定法、SIM测定法或扫描/SIM同时测定 法的任一种而得到的。

3.根据权利要求2所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，

所述显示控制机构进行：对于所描绘出的所述总离子色谱中出现的1 至多个波峰，进行与列举记载于所述化合物表格中的化合物具有对应关系 的显示。

4.根据权利要求2或3所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，

所述显示控制机构在制作所述测定条件表格时描绘出的所述总离子 色谱上重叠显示能够识别扫描测定、SIM测定及扫描/SIM同时测定的时间 范围的显示。

5.根据权利要求4所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，

能够通过指示设备的指示，版面可视地修改在所述总离子色谱上重叠 显示的扫描测定、SIM测定及扫描/SIM同时测定的时间范围。

6.根据权利要求1所述的色谱仪质量分析装置，其特征在于，

所述选择机构通过向对所述化合物表格中的各化合物的每一个设置 的复选框输入复选标记而选择化合物。