[发明专利]电子部件移送方法以及电子部件输送装置无效

专利信息
申请号: 200680055451.9 申请日: 2006-07-27
公开(公告)号: CN101501514A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 狩野孝也;伊藤明彦 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李今子
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电子 部件 移送 方法 以及 输送 装置
【权利要求书】:

1.一种电子部件移送方法,是在具备能够同时保持并移送多个测试前电子部件的保持部的电子部件输送装置中,将多个测试前电子部件从载置了测试前电子部件的第一地点移送到对测试前电子部件进行载置或测试的第二地点的方法,其特征在于,具备如下步骤:

第一步骤,对于上述各第二地点,根据规定的状况,进行测试前电子部件可被移送时的可被移送设定、和测试前电子部件不应被移送时的不可被移送设定,

将载置在与不可被移送设定的第二地点对应的位置的第一地点中的测试前电子部件留在第一地点,使用上述保持部仅保持载置在与可被移送设定的第二地点对应的位置的第一地点中的测试前电子部件,并在不改变该保持状态时的测试前电子部件的配置的情况下,直接或间接地从第一地点移送到上述可被移送设定的第二地点;以及

第二步骤,将认为载置在与不可被移送设定的第二地点对应的位置的第一地点中而留在第一地点中的测试前电子部件从该第一地点移送到可被移送设定的第二地点。

2.根据权利要求1所述的电子部件移送方法,其特征在于,直到载置在第一地点中的测试前电子部件之中的、载置在与可被移送设定的第二地点对应的位置的第一地点中的所有测试前电子部件被移送到第二地点为止反复进行上述第一步骤,之后,进行上述第二步骤。

3.根据权利要求1所述的电子部件移送方法,其特征在于,上述第一地点是供给用盘的电子部件收容部。

4.根据权利要求1所述的电子部件移送方法,其特征在于,上述第二地点是测试用盘的电子部件收容部。

5.一种电子部件移送方法,是在具备能够同时保持并移送多个测试完电子部件的保持部的电子部件输送装置中,将多个测试完电子部件一边根据测试结果进行分类,一边从载置了测试完电子部件的第一地点移送到对测试完电子部件进行载置的第二地点的方法,其特征在于,具备:

第一步骤,将载置在第一地点中的测试完电子部件之中的、具有规定的或任意的测试结果的测试完电子部件利用上述保持部保持并直接或间接地从第一地点移送到第二地点,将具有上述规定的或任意的测试结果的测试完电子部件之中的、具有一种测试结果的测试完电子部件按照与基于上述保持部的保持状态时的配置对应的配置载置到上述第二地点中。

6.根据权利要求5所述的电子部件移送方法,其特征在于,在具有上述规定的或任意的测试结果的测试完电子部件中,仅包括具有上述一种测试结果的测试完电子部件。

7.根据权利要求5所述的电子部件移送方法,其特征在于,在具有上述规定的或任意的测试结果的测试完电子部件中,包括具有上述一种测试结果的测试完电子部件和具有其他测试结果的测试完电子部件。

8.根据权利要求5所述的电子部件移送方法,其特征在于,在上述规定的或任意的测试结果中,能包括所有种类的测试结果,在利用上述保持部保持载置在第一地点中的测试完电子部件时,不管测试结果而保持测试完电子部件。

9.根据权利要求5所述的电子部件移送方法,其特征在于,上述第一地点是测试用盘的电子部件收容部,上述第二地点是分类用盘的电子部件收容部。

10.根据权利要求5所述的电子部件移送方法,其特征在于,还具备第二步骤,向在上述第一步骤中未载置测试完电子部件而成为空闲状态的第二地点,移送并载置具有上述一种测试结果的测试完电子部件。

11.根据权利要求10所述的电子部件移送方法,其特征在于,直到无法执行上述第一步骤为止反复进行上述第一步骤,之后,进行上述第二步骤。

12.根据权利要求11所述的电子部件移送方法,其特征在于,上述第二地点是分类用盘的电子部件收容部,

直到针对一张分类用盘无法执行上述第一步骤为止反复进行上述第一步骤。

13.根据权利要求11所述的电子部件移送方法,其特征在于,上述第二地点是分类用盘的电子部件收容部,

直到针对规定张的分类用盘无法执行上述第一步骤为止反复进行上述第一步骤。

14.根据权利要求11所述的电子部件移送方法,其特征在于,上述第二地点是分类用盘的电子部件收容部,

直到在容许更换分类用盘的情况下无法执行上述第一步骤为止反复进行上述第一步骤。

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