[发明专利]带有降低的暗电流的CMOS成像器的读出方法有效
申请号: | 200680055834.6 | 申请日: | 2006-09-28 |
公开(公告)号: | CN101513037A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
发明(设计)人: | M·纳斯卡利;J·阿拉卡尔赫 | 申请(专利权)人: | 诺基亚公司 |
主分类号: | H04N5/217 | 分类号: | H04N5/217;H04N3/15 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 芬兰*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 带有 降低 电流 cmos 成像 读出 方法 | ||
1.一种捕获电子图像的设备,包括:
像素阵列,包括被设置成被曝光以捕获电子图像的多个光敏像素;
读出电路,被设置用于:
获得与从第一像素组中读取的光强度值相关的第一暗电流误差;
随后从所述像素阵列的中间像素组中读出光强度值,以捕获所述图像的光强度值;以及
随后获得与从所述第一像素组中读取的所述光强度值相关的第二暗电流误差,所述第一像素组与所述像素阵列中的中间像素组相分隔,而且每个像素组包括一个或多个像素;
其中所述设备还包括噪声补偿电路,所述噪声补偿电路被设置用于:
通过内插所述第一和第二暗电流误差来计算所述中间像素组的一个或多个暗电流误差,以补偿所述像素阵列的像素中的暗电流;以及
从所述中间像素组的像素的光强度值中减去所述暗电流误差,以获得所述像素的噪声补偿光强度值。
2.根据权利要求1所述的设备,其中:
所述像素阵列包括一个或多个光学屏蔽的光敏像素,所述一个或多个光学屏蔽的光敏像素被设置成由所述读出电路使用以获得所述第一和第二暗电流误差。
3.根据前述任何一项权利要求所述的设备,所述设备被设置成使得所述第一和中间像素组能够被同时曝光。
4.根据权利要求3所述的设备,所述设备被设置成使得所述第一和中间像素组能够被在不同的时间曝光。
5.根据权利要求4所述的设备,所述设备被设置成使得像素组 可以被曝光,而且在后续像素组被曝光之前其光强度值被所述读出电路读取。
6.根据权利要求1所述的设备,其中所述设备是数字摄像机。
7.根据权利要求1所述的设备,其中所述设备是数字摄像机的模块。
8.一种捕获电子图像的方法,包括:
曝光像素阵列中的多个光敏像素以捕获电子图像;
获得与从第一像素组中读取的光强度值相关的第一暗电流误差;
随后在不同时间从所述像素阵列的中间像素组中读出光强度值,以捕获所述图像的光强度值;
随后获得与从所述第一像素组中读取的所述光强度值相关的第二暗电流误差,所述第一像素组与所述像素阵列中的中间像素组相分隔,而且每个像素组包括一个或多个像素;
通过内插所述第一和第二暗电流误差来计算所述中间像素组的一个或多个暗电流误差,以补偿所述像素阵列的像素中的暗电流;以及
从所述中间像素组的像素的光强度值中减去所述暗电流误差,以获得所述像素的噪声补偿光强度值。
9.一种捕获电子图像的设备,包括:
用于曝光像素阵列中的多个光敏像素以捕获电子图像的装置;
用于获得与从第一像素组中读取的光强度值相关的第一暗电流误差的装置;
用于随后从所述像素阵列的中间像素组中读取光强度值以捕获所述图像的光强度值的装置,每个像素组包括一个或多个像素;
用于随后获得与从所述第一像素组中读取的所述光强度值相关的第二暗电流误差的装置,所述第一像素组与所述像素阵列中的中间像素组相分隔;
用于通过内插所述第一和第二暗电流误差来计算所述中间像素组的一个或多个暗电流误差,以补偿所述像素阵列的像素中的暗电流 的装置;以及
用于从所述中间像素组的像素的光强度值中减去所述暗电流误差,以获得所述像素的噪声补偿光强度值的装置。
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