[发明专利]用于处理和/或分析表示辐射的图像信息的装置和方法无效

专利信息
申请号: 200680056501.5 申请日: 2006-11-29
公开(公告)号: CN101573597A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: K·Y·哈夫纳 申请(专利权)人: ABB研究有限公司
主分类号: G01J5/08 分类号: G01J5/08;F23N5/08;G01J5/60
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 汤春龙;王丹昕
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 处理 分析 表示 辐射 图像 信息 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于监视工业燃烧过程的方法,所述过程包括处理和/或分 析图像信息,所述图像信息表示源于燃烧室(C)中燃烧过程的火焰(F) 的二维空间分辨发射谱,所述方法使用耦合到至少一个光学检测器 (21-24)的光学系统(1),

包括以下步骤:

由所述光学系统(1)通过至少一个微机械反射镜(10)收集所述图 像信息,所述至少一个微机械反射镜可机械地、变化地倾斜使得所述 图像信息被所述至少一个微机械反射镜(10)扫描,并按顺序将所述图 像信息耦合到所述至少一个光学检测器(21-24),其中

所述光学系统(1)还包括透镜(12)和带有光导纤维(131-134)的纤 维束(13),其特征在于以下步骤:

将所述至少一个微机械反射镜(10)布置在所述燃烧室(C)的窗口 (W)后从而将所述燃烧室(C)与所述至少一个微机械反射镜(10)所处的 空间分开,

将所述透镜(12)布置在所述纤维束(13)的第一端处以将从所述至 少一个微机械反射镜(10)接收的所述图像信息作为光学信号耦合到所 述纤维束(13),将所述纤维束(13)的第二端耦合到所述至少一个光学检 测器(21-24)以将所述图像信息传送到所述至少一个光学检测器,并将 所述至少一个光学检测器连接到光导纤维(131-134),

所述至少一个光学检测器(21-24)对某个频率范围敏感,并且检测 有机基以便表征所述燃烧,以及

将来自分析单元(3)的测量的参数作为输入数据提供到控制电路, 并且所述控制电路控制燃料或助燃空气的供应。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于从所述测量的参数得到 其它信息的步骤,所述其它信息如所述火焰轮廓、火焰位置、所述火 焰的动力及所述火焰的亮/灭状态。

3.如权利要求1或权利要求2所述的方法,其特征在于经网络将 所述测量的数据传送到远离所述燃烧室(C)的计算机的步骤。

4.如前面权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于所述至 少一个微机械反射镜(10)连续或同时绕两个正交轴(X,Y)倾斜以便捕 捉二维图像信息。

5.如前面权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于用于倾 斜运动的所述至少一个微机械反射镜(10)绕平衡位置振荡。

6.如前面权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于所述方 法还包括通过所述至少一个光学检测器(21-24)将所述图像信息变换 成模拟信号和/或变换成数字信号的步骤。

7.如前面权利要求6所述的方法,其特征在于所述方法包括通过 包括计算机的分析单元(3)分析所述模拟信号或所述数字信号的步骤。

8.如前面权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于对于不 同的谱范围,并行使用不同的检测器(21-24)。

9.如前面权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于与图像 信息的所述空间分辨收集测量所述完整图像平面的特定特征。

10.如前面权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于,如 果所述至少一个微机械反射镜(10)同时绕两个正交轴(X,Y)倾斜,则在 所述两个轴周围的振荡是相移的。

11.如前面权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于与图 像信息的所述空间分辨收集并行地测量所述完整图像平面的完整辐 射强度。

12.如权利要求8所述的方法,其特征在于可测量310纳米±20 纳米和/或430纳米±20纳米和/或510纳米±20纳米和/或550纳米±20 纳米的波长。

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