[发明专利]非晶硅碳薄膜核电池无效

专利信息
申请号: 200710002564.9 申请日: 2007-01-29
公开(公告)号: CN101236794A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 李沅民;马昕 申请(专利权)人: 北京行者多媒体科技有限公司
主分类号: G21H1/06 分类号: G21H1/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100086北京市海淀区中关村南大街*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 非晶硅碳 薄膜 核电
【权利要求书】:

1. 一个p-i-n型β伏电池,它由下列基于硅的薄膜层构成:

a)一个β活性p层,由氚原子浓度高于8%的硼掺杂的氚化非晶硅或氚化非晶硅的合金组成,包括具有宽能带隙的氚化非晶硅碳薄膜;

b)一个β活性n层,由氚原子浓度高于6%的磷掺杂的氚化硅或氚化硅合金组成,包括氚化非晶硅和氚化纳米硅薄膜;

c)一个本征i层,由不含氚的、非掺杂的、能带隙大于1.85eV的氢化非晶硅碳合金构成,其厚度在200-500纳米范围之内,其并被放置在所述β活性p层和所述β活性n层之间,其特征为:具有远远低于本征非晶硅的导电性,且具有与本征非晶硅相近的低电子缺陷浓度。

2. 一种根据权利要求1所述的p-i-n型β伏电池,其特征在于:所述β活性p层和所述β活性n层的厚度在20-200纳米范围之内,氚的原子浓度在12-36%范围之内。

3. 一个p-i-n型β伏电池,它由下列薄膜层构成:

a)一个第一β放射性接触层,具有足够大的导电率;

b)一个p层,由硼掺杂的非晶硅或非晶硅合金组成,包括具有宽能带隙的氚化非晶硅碳,其厚度在12-100纳米范围之内,并被放置在所述的第一β放射性接触层上;

c)一个本征i层,由不含氚的、非掺杂的、能带隙大于1.85eV的氢化非晶硅碳合金构成,其厚度在150-400纳米范围之内,并被放置在所述的p层之上,其特征在于:具有远远低于本征非晶硅的导电性,且具有与本征非晶硅相近的低电子缺陷浓度;

d)一个n层,由磷掺杂的薄膜硅或薄膜硅合金组成,包括氚化非晶硅和氚化纳米硅,其厚度在16-120纳米范围之内,并被放置在所述的i层之上;

e)一个第二β放射性接触层,具有足够大的导电率,并被放置在所述n层之上。

4. 一个多结β伏电池,其特征在于:由多个重叠在一起的p-i-n型β伏电池而组成,其中至少有一节电池是根据权利要求1或权利要求3所述的p-i-n型β伏电池。

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