[发明专利]发光二极管装置及其制造方法无效
申请号: | 200710005491.9 | 申请日: | 2007-02-08 |
公开(公告)号: | CN101241958A | 公开(公告)日: | 2008-08-13 |
发明(设计)人: | 高旗宏;王宏洲;陈煌坤 | 申请(专利权)人: | 台达电子工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 装置 及其 制造 方法 | ||
1. 一种发光二极管装置,包括:
导热基板;
第一半导体层,形成于该导热基板之上;
发光层,形成于该第一半导体层上;以及
第二半导体层,形成于该发光层上,其中该第二半导体层的出光面具有多个台阶凸块。
2. 如权利要求1所述的发光二极管装置,其中该第一半导体层为p型掺杂层,该第二半导体层为n型掺杂层,或者该第一半导体层为n型掺杂层,该第二半导体层为p型掺杂层。
3. 如权利要求1所述的发光二极管装置,其中这些台阶凸块为二元光学凸块,且这些台阶凸块具有2N个阶层,N为正整数。
4. 如权利要求1所述的发光二极管装置,其中这些台阶状凸块分别具有平坦表面或曲形表面。
5. 如权利要求1所述的发光二极管装置,其中该第二半导体层的这些台阶凸块为轴对称排列、非轴对称排列或不规则排列。
6. 如权利要求1所述的发光二极管装置,其中该发光层产生一光束,并射向该第二半导体层的该出光面。
7. 如权利要求6所述的发光二极管装置,其中该光束于射出该出光面所形成的光场形状为三角形、四边形或多边形。
8. 如权利要求6所述的发光二极管装置,其中该光束自该发光层至照射目的物之间形成发光路径,且在该发光路径上设置有一透镜由此调整该光束的光学特性,而使得该发光二极管装置的应用更为广泛。
9. 如权利要求1所述的发光二极管装置,还包括反射层,其设置于该导热基板与该第一半导体层之间,且该反射层的材料选自铂、金、银、钯、镍、铬、钛及其组合所构成的组。
10. 如权利要求1所述的发光二极管装置,还包括绝缘层,其设置于该导热基板与该第一半导体层之间,且该绝缘层的材料选自氮化铝或碳化硅。
11. 如权利要求1所述的发光二极管装置,还包括粘着层,其设置于该导热基板与该第一半导体层之间,且该粘着层的材料选自锡膏、锡银膏、银膏及其组合所构成的组。
12. 如权利要求1所述的发光二极管装置,其中该导热基板的材料选自硅、砷化镓、磷化镓、碳化硅、氮化硼、铝、氮化铝、铜及其组合所构成的组。
13. 一种发光二极管装置的制造方法,包括以下步骤:
形成第一半导体层于导热基板之上;
形成发光层于该第一半导体层上;
形成第二半导体层于该发光层上;以及
移除部分的该第二半导体层,并在其出光面形成多个台阶凸块。
14. 如权利要求13所述的制造方法,其中移除部分该第二半导体层的步骤包括:
形成光致抗蚀剂层于该第二半导体层上;
透过光掩模对该光致抗蚀剂层进行曝光;以及
依据曝光结果移除该光致抗蚀剂层及部分的该第二半导体层,以形成这些台阶凸块。
15. 一种发光二极管装置的制造方法,包括以下步骤:
形成第一半导体层于原始基板上;
形成发光层于该第一半导体层上;
形成第二半导体层于该发光层上;
将导热基板与该第二半导体层结合;
移除该原始基板;以及
移除部分的该第一半导体层,并在其出光面形成多个台阶凸块。
16. 如权利要求13或15所述的制造方法,其中透过该光掩模对该光致抗蚀剂层进行曝光的步骤为灰阶曝光。
17. 如权利要求13或15所述的制造方法,其中这些台阶凸块为二元光学凸块,且这些台阶凸块具有2N个阶层,N为正整数。
18. 如权利要求13或15所述的制造方法,其中这些台阶状凸块分别具有平坦表面或曲形表面。
19. 如权利要求15所述的制造方法,其中于将该导热基板与该第二半导体层结合后,还包含步骤:
翻转该发光二极管装置。
20. 如权利要求15所述的制造方法,其中移除部分该第一半导体层的步骤包括:
形成光致抗蚀剂层于该第一半导体层上;
透过光掩模对该光致抗蚀剂层进行曝光;以及
依据曝光结果移除该光致抗蚀剂层及部分的该第一半导体层,以形成这些台阶凸块。
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